ICP-MS数据采集方式.docx

ICP-MS分析，数据信号的采集方法和方式，影响多元素同时测量的性能、同位素特性、检测下限、线性范围以及分析速度。ICP-MS的四极杆质量分析器，主要有两种数据采集方式：扫描方式和跳峰方式。 扫描方式(Scanning)（实验时记得有survey scanning和main scanning,测涂料时好像用的main scanning） 扫描方式是在相当多的点（大约1520点/峰）上采集数据，因而可以确定每一个同位素的峰形，并对曲线下的峰面积进行积分。其操作方式是使四级杆在感兴趣的质量范围内进行扫描，建立一个连续的质谱图。扫描方式的主要优点是不仅获得当时感兴趣的同位素数据，而且还可获得很宽质量范围内的备用数据。另外，由于获得整个质谱图，因而可以很容易地辨认出干扰峰。 扫描方式适合于扫描质谱图并观察谱峰的形状，通常用于质量校准和检查分辨率，并作为传统的定性分析方法开发工具，检查样品中有哪些元素，评估感兴趣质量数的谱图干扰信号。 质量轴分辨率扫描图 铅分辨率扫描图 跳峰方式(Peak Hopping)（测钢材时好像是peak jumping） 跳峰方式是指质谱仪在几个固定质量位置上对每一感兴趣的同位素进行数据采集的方式。在此操作方式中，峰的中心位置的定位十分重要，因为它用来确定每一个峰的测量起点。若每峰采用3点，则测量时除了取中心点外，还在其两边各取一点。在每一个单点测量中采集的都是峰高信号。 当要求达到尽可能低的检出限时，最佳的选择是跳峰方式。了解跳峰方式的所有益处很重要，当选择峰最高点处一个点时将获得最好的检出限。 跳峰方式下的谱图 跳峰方式下的信号强度 跳峰方式有其优缺点。优点之一是没有花费时间于不感兴趣的同位素的数据采集上。然而，这也是这种方式的缺点，因为事后如需要其它同位素信息时，这种方式没有保留相关的记录，将无法提供信息。更重要的是由于无法保留记录和检查整个谱图，因而也不能为观察和校正存在的干扰和基体影响提供在线资料。 在实际应用中，将扫描和跳峰方式的各自优点相结合，有时是十分有用的。例如，某些仪器允许只扫描质量范围内的几个狭窄区段中的仅5-10个同位素，而他们之间的广大区间（有时称为扫描跳跃区）则快速扫过，其数据不预采集。 在环境科学、地球科学、生命科学、材料科学、食品科学、石油工业、海洋科学等领域，现代ICP-MS面对各种不同要求的应用，需要满足用户的需求越来越多，必须具有很强的灵活性。这对于应用方法中选择数据采集的方法和方式、峰积分范围方面，尤显得更重要了。