压电元件阻抗导纳圆测量实验.doc
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1、压电元件导纳圆测量实验实验数据的记录及处理1、定性观察压电元件在某一共振频率附近,改变频率时,U、UI的大小及其相位差变化情况,并作简单记录。在实验中发现对于同一个压电陶瓷,共振频率不止一个,本实验中所选用的共振频率f约为175kHz,在此频率附近时,当f由小逐渐增大时,UI的幅值由小变大再变小(在共振处达到最大);U的幅值由大变小再变大(在共振处达到最小)。UI由相位超前于U变为相位落后于U,在共振处相位差为0;利用这一点可判断共振,即用DtDVOFF按键测量时间,当两者位相差为零时,达到共振。2、导纳圆的测量。找到共振频率后,调节频率,使实验点大致均匀分布在导纳圆上的方法:在共振频率处,频
2、率很小的变化就会引起g和b较大的变化,所以为了使实验点均匀分布,采用的方法见思考题3实验数据的记录及数据处理本实验中用No.35压电陶瓷,用的采样电阻的阻值为,共测了十三组数据,数据记录及计算出的g,b以及画出的导纳圆见实验室计算机打印页(见附页)。“+”表示的是实验得到的数据值在导纳圆上的分布;实线是得到的导纳圆。可以看到,数据偏差不大。(2)从gf图上定出F1、F2点从gf图上定出F1、F2点,得,;从而得。21.200.0050621.8830E-09264.0选作内容数据整理f=5.1312KHz M=1.0080.010mH L2=1.0120.005mH R=16R2/010203
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