手机可靠性测试手册.doc
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4、录1.简介.51.1目的.51.2适用范围.51.3责任.52.测试内容.5 2.1整机测试项目.52.1.1电性能测试52.1.2 ESD测试52.1.3环境测试62.1.4寿命测试62.1.5机械强度测试62.2部件测试项目.63.测试标准.63.1整机测试标准.63.1.1电性能测试标准63.1.2ESD静电测试标准73.1.3环境测试标准83.1.4寿命测试标准123.1.5机械强度测试标准183.1.6机械强度测试(参考测试).223.1.7环境测试标准(参考测试).233.1.8 电气性能测试标准(只要求研发阶段测试).243.2 部件测试标准.253.3 基本性能测试.301 简
5、介 1.1 目的 为了规范多美达公司整机和部件测试的各项工作,使宇康各合作公司按照共同的测试项目和测试标准进行测试,以使合作项目能达到多美达手机的测试要求,特制定本测试手册。 1.2 适用范围 本规范适用于多美达公司和相关合作公司合作项目的整机和部件的测试。 1.3 责任 多美达公司和相关合作公司都需按本测试手册进行相关测试,对问题进行分析,确定责任部门,由责任部门提出改善对策。2 测试内容 2.1 整机测试项目 2.1.1 电性能测试 按照GSM规范和移动电话相关标准,测试手机的各项重要电性能指标; 2.1.2 ESD 测试 测试手机在静电环境中的性能; 2.1.3 环境测试 模拟手机使用的
6、各种恶劣环境,测试其性能是否达到要求;主要包括高/低温试验、湿热试验、防尘试验等。 2.1.4 寿命测试 测试手机各易损部件的工作寿命是否达到规格要求;主要包括翻盖/滑盖、speaker、SIM卡座、按键、I/O口插拔等试验。 2.1.5 机械强度测试 测试手机机械结构的强度;主要包含振动测试、跌落测试、软压测试等。 2.2 部件测试项目 部件包括听筒、振子、手写笔、有特殊测试要求的结构件等,针对不同的部件进行相关的可靠性测试。3. 测试标准 3.1 整机测试标准 3.1.1 电性能测试标准 依照GSM规范、移动电话相关标准,测试手机的电性能。 参考标准: 1. GB/T 15844.2-19
7、95 移动通信调频无线电话机环境要求和试验方法。 2. YD/T 1215 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动一动通信网通用分组无限业务设备测试方法:移动台 3. GB/T 15844.3-1995 移动通信调频无线电话机可靠性要求和试验方法。 4. YD/T 965-1998 电信终端设备的安全要求和试验方法 5. YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 数字900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法 第一部分:移动台及其辅助设备3.1.2 ESD 静电测试标准 手机在接充电器和不接充电器的情况下,分别测试手机在常用使用状态下
8、的ESD 性能,待机和通话状态是必须要测试的状态。 接触放电为6KV,对裸露的金属件(如导电装饰圈、装饰牌不同的位置)、水平耦合板、垂直耦合板连续放电各 10次后对地放电,要求:LCD 显示和通话状况应良好,应无数据丢失和功能损坏等;接触放电每点每个测试电压连续放电 10次(加严测试20 次)。 空气放电10K,对翻盖底壳/面壳、大小LCD四周、接缝、受话器、免提接口、I/O口、主机按键及主机底壳等处进行放电,被选点每点每个测试电压放电10 次(加严测试20 次),每放电一次需对地放电,要求LCD显示和通话状况应良好,应无数据丢失和功能损坏。 完成后作好记录。所需手机数为2 部。 外置天线 E
9、SD 测试要求:天线电镀装饰要求测试接触放电8KV,空气放电15KV,不允许出现破坏性问题(出现重启或重装电池不可恢复的问题) 参考标准: GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2 1995 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 YD/T 1539-2006移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法 ESD 实验室环境要求: 环境温度: +15 +35 相对湿度: ESD 实验室湿度应严格控制到 3060RH 大气压力: 86106kPa 3.1.3 环境测试标准测试项目及条件:测试项目测试条件/参考标准主要测试阶段数量注意事项低温储存试验T=-303,试验时间
10、48小时,回温 2h 后检测功能、外观、机械和电性能有无异常。P1 板必须要测,更改重要元器件或元器件的供应商,结构材料变更4试验状态:整机关机状态。低温工作试验T=-203,试验时间8 小时,测试过程中需进行中间检测,观察信号指示并进行拨打测试(或用仪器测试电性能),测试持续时间到后立即在该温度下进行电性能和功能测试,最终检测:将试验样品回温2h 后检测呼叫连接、外观、机械等应正常。 中间检测及最终检测均正常测试才为合格。P1 板必须要测,更改重要元器件或元器件的供应商4试验中手机处于待机状态(如果T=-203条件下电性能有异常情况,品质可按照T=-103的实验条件作为最低出货标准。若选择观
11、测信号指示与被叫的方式,需将手机工作在带SIM卡的标准用户模式) 试验状态:整机关机状态。高温储存试验T=702,试验时间 48小时,回温2H 后检测功能、外观、机械和电性能。P1 板必须要测,更改重要元器件或元器件的供应商,结构材料变更4试验状态:整机关机状态。高温工作试验T=552,试验时间8 小时,测试过程中需进行中间检测,进行主叫拨打测试(或用仪器测试电性能),测试持续时间到后在该温度下进行电性能和功能测试,最终检测:将试验样品回温 2h后进行功能、外观、机械和电性能等检测。中间检测及最终检测均正常测试才为合格。可选做4试验状态:整机开机状态。 主叫可采用直接拔打112的方式。恒定湿热
12、试验T=402,RH=953%,试验时间48 小时,测试过程中需进行中间检测, 进行主叫拨打测试(或用仪器测试电性能),测试时间到后在该温度下进行电性能和功能测试,回温2h 后检测呼叫连接、外观、机械等应正常。可选做4试验中手机处于待机状态。(翻盖手机翻盖处于打开状态,使用大LCD也处于工作状态,主叫采用拨打112的方式)。湿热循环试验从室温以不大于 1/MIN 速度变到40,RH:953%,保持1H;再以不大于 1/min速度变到-10,保持 1h;循环13 次。循环期满,回温 2H后检测功能、外观、机械和电性能应正常。P1 板必须要测,更改重要器件或元器件的供应商4试验中手机处于待机状态防
13、尘试验将手机放置在粉尘试验箱内, 样品体积综合不得超过试验箱有效空间的 1/3,底面积不得超过有效水平在积的 1/2;与实验箱内壁距离应不小于 100mm。启动粉尘试验箱,使气流能够将灰尘均匀缓慢地沉降在试验样品上,最大值不得超过 2m/s。测试时间到后,将手机在粉尘箱内静置 2H,进行功能、外观及装配检测。(在仪器未到位前,也可采用袋子装上少许灰尘,把手机装进袋子且用人手抖动袋子1 分钟方式)。P1 板必须要测,或更改结构4试验中手机带电池关机。测试后的手机显示区域内、摄相头区域内不得有粉尘出现。备注:对于本环境测试标准中未涉及的新工艺,新标准,可以根据具体情况采用行业标准来进行测试。 *防
14、尘测试在没有专用测试仪器的情况下,可以采用手动测试的方式代替。3.1.4 寿命测试标准测试项目测试条件/参考标准主要测试阶段数量注意事项翻/滑盖寿命试验以 4060 次/分钟的速度翻动翻盖,来回为1 次,要求翻盖达到最大转动位置。每 3000次检查1次。要求翻盖最少测试8 万次。测试结束后首先对样品进行功能、结构检测;然后拆机检查铰链周围壳体以及 FPC 有无外观异常,并对 FPC 阻值进行测量。P1 板必须要测,更换铰链/FPC 或供应商4测试中手机处于待机状态;测试中手机应无(关机,显示等)异常; 测试后手机应无结构(进程中出现干涉,松动,响声等)、外观(掉漆、裂痕等)异常; 壳体无异常,
15、FPC 无破裂、刮痕,各走线导通电阻必须小于8 欧姆。以 4060 次/分钟的速度滑动滑盖,来回为1 次,要求滑动达到最大行程位置。每 3000次检查1次。要求滑盖最少测试8 万次。测试结束后首先对样品进行功能、结构检测;然后拆机检查滑轨、FPC外观,并对 FPC阻值进行测量。P1 板必须要测,更换滑轨/FPC 或供应商4Speaker 寿命测试采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用 4.2V 直流电源供电方式,将试验样机设置成长时间播放状态(采用播放MP3,循环连续播放),连续播放时间不少于 120H,功能应正常。P1 板必须要测,更换speaker 音频参数,或speaker 的供应商6选
16、用音频较高的歌曲;测试中突然掉电不超过 1 分钟可以累积测试时间,超过 1分钟必须重新计算。机械按键寿命测试以 4060 次/分钟的速度,不小于 10N 的力度均匀按键,Dome:15 万次以上;Switch:10 万次;多维导航键:6 万次。每2万次检查1次。Slide:1.5 万次;试验后功能应正常。P1 板必须要测,更换按键板、按键、DOME,或供应商2手机处于关机状态电池插拔测试装上电池再取下电池。累计 2000 次以上。每插拔100 次开机检查一次, 手机功能应正常。P1 板必须要测,更换电池/电池连接器,或供应商2测试速度不超过 30 次/分(插入拔出算一次)SIM卡插拔测试插入S
17、IM 卡再取出,累计1000 次。每插拔50 次开机检查一次,手机不能有不识卡现象,测试完毕手机功能应正常。P1 板必须要测, 或更换 SIM卡座供应商2测试速度不超过 30 次/分(插入拔出算一次)外置内存卡插拔试验插入内存卡再取出,累计 1000 次。不支持热插拔的机型,每插拔 100 次开机检查一次,支持热插拔的机型必须在开机状态下测试,每插拔 100 次检查一次,要求测试后存储卡结构正常(不能破裂),手机无不识卡问题,内存卡中的内容不可丢失。P1 板必须要测,或更换T卡座供应商2插拔频率不超过 30 次/分钟。(插入拔出算一次)耳机插孔插拔试验将耳机垂直插入耳机孔后,再垂直拔出,如此反
18、复,累计 3000 次。功能应正常。P1 板必须要测,或更换耳机插孔供应商2插拔频率不超过 3040 次/分钟。(插入拔出算一次)若手机采用数据线、耳机、充电器三合一接口,需要采用三种配件对应同一个母座各测试 3000 次。I/O插拔测试插入数据线再拔下,累计3000次。每插拔100次开机检查一次,手机功能应正常。P1 板必须要测, 或更换 I/O口供应商2插拔频率不超过 30次/分钟。(插入拔出算一次) 若手机采用数据线、耳机、充电器三合一接口,需要采用三种配件对应同一个母座各测试 3000 次。电池盖插拔测试插上电池后盖再拔下,累计2000 次,外观、功能应正常。P1 板必须要测,或更换电
19、池盖材料/供应商2插拔频率不超过30次/分钟 (插入拔出算一次)手写笔插拔测试手写笔垂直插入手机再拔出为一次,插拔20000 次, 实验中检查手机与手写笔的配合有无不顺畅现象。测试完毕后手机与手写笔外观、结构应正常。(试验速率:25 次/分钟)第一次送样时测试,更换手写笔供应商220000次测试后,手机壳体卡扣弹片功能正常,无破裂;手写笔可以锁紧不会滑落,多段设计的手写笔,拉出后应为伸长状态触摸屏点击试验将手机固定在点击测试仪器上, 用固定在尖端的随机手写笔,加载 150g 的力,对触摸屏点击25 万次, 每5 万次对屏幕进行检查并清洁;手机处于待机状态;测试完毕后,触摸屏表面无损伤,功能正常
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