Li、Ce掺杂对NBTa-CBN高温压电陶瓷性质的影响研究.pdf
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1、第4 6卷 第2期压 电 与 声 光V o l.4 6 N o.22 0 2 4年4月P I E Z O E L E C T R I C S&A C OU S T OO P T I C SA p r.2 0 2 4 收稿日期:2 0 2 3-0 9-2 8 基金项目:国家自然科学基金资助项目(5 1 9 3 2 0 1 0)作者简介:徐鸿飞(1 9 9 8-),男,安徽省芜湖市人,硕士生。通信作者:陈强,男,四川省人,研究员。文章编号:1 0 0 4-2 4 7 4(2 0 2 4)0 2-0 1 8 4-0 7D O I:1 0.1 1 9 7 7/j.i s s n.1 0 0 4-2 4
2、 7 4.2 0 2 4.0 2.0 0 9L i、C e掺杂对N B T a-C B N高温压电陶瓷性质的影响研究徐鸿飞,史 伟,官尚义,吴禹桐,陈 强(四川大学 材料科学与工程学院,四川 成都 6 1 0 0 6 4)摘 要:采用传统固相反应法制备了C a0.5(N a0.5B i0.5)0.5-3x(L i0.5C e0.5)3xB i2T a N b0.9 9M n0.0 1O9(C N B T NM-L C 1 0 0 x)高居里温度(TC)压电陶瓷。研究了L i、C e复合离子掺杂对陶瓷结构和电学性质的影响。结果表明,随着L i、C e掺杂量的增加,C N B T NM-L C 1
3、 0 0 x陶瓷的晶体结构趋于由正交相向四方相转变,压电常数d3 3逐渐增大,当x0.0 4(x为摩尔分数)时,d3 3趋于降低。x=0.0 4时,具有最优的综合电学性能,d3 3约为1 5.9 p C/N,6 0 0 下直流电阻率约为5.91 05 c m,介电损耗t a n(1 MH z)约为7%,TC约为8 8 7。关键词:压电陶瓷;铋层状铁电体;高居里温度;N a0.5B i2.5T a2O9;C a B i2N b2O9中图分类号:T N 3 8 4 文献标识码:AE f f e c t o f L i、C e D o p i n g o n N B T a-C B N H i g
4、h-T e m p e r a t u r e P i e z o e l e c t r i c C e r a m i c P r o p e r t i e sX U H o n g f e i,S H I W e i,G U A N S h a n g y i,WU Y u t o n g,C H E N Q i a n g(C o l l e g e o f M a t e r i a l s S c i e n c e a n d E n g i n e e r i n g,S i c h u a n U n i v e r s i t y,C h e n g d u 6 1 0
5、0 6 4,C h i n a)A b s t r a c t:A C a0.5(N a0.5B i0.5)0.5-3x(L i0.5C e0.5)3xB i2T a N b0.9 9M n0.0 1O9(C N B T NM-L C 1 0 0 x)s o l i d-s o l u t i o n p i e z o-e l e c t r i c c e r a m i c w i t h h i g h C u r i e t e m p e r a t u r e(TC)w a s p r e p a r e d u s i n g t h e t r a d i t i o n a
6、 l s o l i d-s t a t e r e a c t i o n m e t h o d.T h e e f f e c t o f L i,C e c o m p o s i t e i o n d o p i n g o n t h e c e r a m i c s t r u c t u r e a n d e l e c t r i c a l p r o p e r t i e s w a s s t u d i e d.T h e r e s u l t s s h o w t h a t,w i t h i n c r e a s i n g L i,C e d o
7、 p i n g c o n c e n t r a t i o n,t h e c r y s t a l s t r u c t u r e o f C N B TNM-L C 1 0 0 x c e r a m i c s t e n d s t o t r a n s i t i o n f r o m o r t h o g o n a l t o t e t r a g o n a l,a n d t h e p i e z o e l e c t r i c c o n s t a n t d3 3 g r a d u a l l y i n c r e a s e s.Wh e
8、 n t h e m o l a r f r a c t i o n x0.0 4,d3 3 t e n d s t o d e c r e a s e.W h e n x=0.0 4,t h e c e r a m i c s a m p l e e x h i b i t s t h e b e s t c o m p r e h e n s i v e p e r-f o r m a n c e,w i t h d3 31 5.9 p C/N,a n d t h e D C r e s i s t i v i t y 5.91 05 c m a t 6 0 0.F u r t h e r
9、,t h e d i e l e c t r i c l o s s t a n(1 MH z)7%,a n d TC8 8 7.K e y w o r d s:p i e z o e l e c t r i c c e r a m i c s;b i s m u t h l a y e r-s t r u c t u r e d f e r r o e l e c t r i c s;h i g h C u r i e t e m p e r a t u r e;N a0.5B i2.5-T a2O9;C a B i2N b2O90 引言压电振动传感器利用压电材料的压电效应,将接收到的振动加
10、速度信号转变为电信号,从而实现对目标振动状态、结构健康的在线实时监测,在众多工业领域具有重要的应用价值。而对于航空航天、核能开发、地质勘探特种领域,压电振动传感器的工作环境温度可达2 5 0,基于传统的锆钛酸铅(P Z T)基压电陶瓷的压电振动传感器不能满足其应用需求。铋层 状 结 构 铁 电 体(B i2O2)2+(Am-1BmO3m+1)2-(B L S F s)因其具有比P Z T基压电陶瓷更高的居里温度(TC6 0 0)及优异的温度稳定性,在高温压电振动传感器领域有巨大的应用潜力1。B L S F s的结构由类钙钛矿层(Am-1BmO3m+1)2-与铋氧层(B i2O2)2+沿c轴交替
11、排列形成2。其中m=16,表示类钙钛矿层的层数,A为1 2配位数的大半径离子(如K+、N a+、C a2+等),B为6配位数的小半径离子(如T i4+、T a5+、N b5+等)。近年来,典型的B L S F s材 料(如B i4T i3O1 2(B I T),C a B i2N b2O9第2期徐鸿飞等:L i、C e掺杂对N B T a-C B N高温压电陶瓷性质的影响研究(C B N),N a0.5B i2.5T a2O9(N B T a)等)已有研究。如钟等3采用传统固相法制备了L i、C e复合离子掺杂的C B T a基压电陶瓷,将压电常数d3 3从5.8 p C/N提升到8.1 p
12、C/N。N a0.5B i2.5T a2O9作为典型的两层铋层状结构铁电体,因其居里温度高(TC7 8 0)及介电损耗低等优点而在高温压电器件领域有潜在的应用价值。N B T a基压电陶瓷压电活性较低,为了提高其性能,L o n g等4制备了L i/C e/S c复合离子掺杂的N B T a基固溶体陶瓷,使压电性能获得了较大提升,压电常数d3 3最高约为2 5.8 p C/N,居里温度保持在7 8 4。与N a B i2T a2O9相 比,C a B i2N b2O9虽 然 压 电性能较低(d3 3=6 p C/N),但居里温 度相对较高(TC9 4 0)。为了提高N B T a陶瓷的居里温度
13、,本文将N B T a陶瓷与C B N陶瓷合成,利用L i、C e共取代A位的(N a B i),M n取代B位的N b,成功制备了C a0.5(N a0.5B i0.5)0.5-3x(L i0.5C e0.5)3xB i2T a N b0.9 9-M n0.0 1O9(C N B T NM-L C 1 0 0 x)固 溶 体 陶 瓷。当x=0.0 4时,陶 瓷 样 品 显 示 出 最 强 的 压 电 性 能(d3 3=1 5.9 p C/N)和高居里温度(TC=8 8 7)。此外,系统探寻了L i、C e含量对化合物结构与各种性能的影响。1 实验C a0.5(N a0.5B i0.5)0.5
14、B i2T a N b O9(C N B T N),C a0.5(N a0.5B i0.5)0.5-3x(L i0.5C e0.5)3xB i2T a N b0.9 9M n0.0 1O9(C N B T NM-L C 1 0 0 x(x=0,0.0 1,0.0 2,0.0 3,0.0 4,0.0 5,0.0 6),分别记为L C 0L C 6)由传统固相反应法 合 成。初 始 原 料 包 括C a C O3(9 9%),B i2O3(9 9.9 9 9%),T a2O5(9 9.9 9%),N a2C O3(9 9.8%),N b2O5(9 9.9 9%),L i2C O3(9 9.9 9%
15、),C e O2(9 9.9 9 9%)和M n C O3(9 8.2 1%)。首先根据化学式称量原料,将称量好的原料放在尼龙球磨罐中,加入无水乙醇作为分散剂,用Z r O2球球磨1 2 h后将浆料沥出并烘干。将烘干后的粉体倒入8 5 0 坩埚内预烧4 h。预烧完的粉体经二次球磨1 2 h,所得粉体以8%的P VA(聚乙烯醇)为粘合剂进行造粒后,压制成直径1 2 mm的坯片。坯片排胶后在1 1 5 0 烧结6 h得到最终的陶瓷样品。通过X线衍射仪(X R D)表征陶瓷的相结构,通过扫描电子显微镜(S EM)观察陶瓷微观结构。通过精密L C R表(H P 4 9 8 0 A)测试陶瓷介电常数和介
16、电损耗的温度依赖性。通过压电力显微镜(P FM)测试畴结构。通过高温电阻仪(K e i t h l e y 6 5 1 7 B)测试2 0 07 0 0 间的直流电阻率。被银后陶瓷样品放入2 0 0 的硅油中,在1 0 k V/mm电场下极化3 0 m i n,样品静置2 4 h后,以准静态d3 3仪(Z J-3 A)测量其室温d3 3值。2 实验结果与分析图1(a)为C N B T N和C N B T NM-L C 1 0 0 x(x=0,0.0 1,0.0 2,0.0 3,0.0 4,0.0 5,0.0 6)陶瓷的X R D图谱(衍射角2为2 0 6 0)。由图1(a)可知,所有陶瓷样品的
17、衍射峰都可以按N B T a的标准P D F卡片(P D F#9 7-0 0 5-1 8 6 5)进行指标化,未发现第二相,表明固溶体形成了典型的A u r i v i l l i u s相结构。(1 1 5)衍射峰都具有最大的强度,这符合B L S F s最强衍射峰是(1 1 2m+1)的事实5。图1(b)为放大的X R D图谱(衍射角2为2 8 3 4),当掺入L i、C e离子后,(0 0 8)衍射峰强度降低,这可能是由于L i、C e离 子 的 引 入 会 阻 碍 晶 粒 沿a-b方 向 的 生长6。另外随着L i、C e掺杂量的上升,(2 0 0/0 2 0)衍射峰趋于合并成单峰,表
18、明陶瓷具有从正交相向四方相转变的趋势7。图1 陶瓷的X R D图谱表1为C N B T N和C N B T NM-L C 1 0 0 x陶瓷的单位晶胞体积与密度。单位晶胞体积通过J a d e软件拟合X R D图谱获得,体积密度通过阿基米德式排水法计算得到。在掺入L i、C e离子后,陶瓷样品的密度降低,可能是由于L i、C e离子的取代所导致的晶格畸变。同时相对密度降低,可能是由于L i、C e离子的掺杂引入了缺陷,使烧结过程中产生的氧空位浓度上升。而C N B T NM-L C 4陶瓷的相对密度在C N B T NM-L C 1 0 0 x陶 瓷 中 相 对 较 高(大于9 5%)。581
19、压 电 与 声 光2 0 2 4年表1 不同成分陶瓷样品的单位晶胞体积与密度成分单位晶胞体积/n m3理论密度/(gc m-3)体积密度/(gc m-3)相对密度/%C N B T N0.7 4 4 6 1 78.1 7 48.1 0 19 9.1L C 00.7 4 3 4 0 08.1 5 27.9 5 99 7.6L C 10.7 4 2 6 1 18.1 6 07.8 0 69 5.7L C 20.7 4 2 2 4 58.1 5 67.6 6 19 3.9L C 30.7 4 2 4 9 08.1 3 77.7 0 39 4.7L C 40.7 4 2 0 3 18.1 3 07.7
20、 6 89 5.5L C 50.7 4 2 7 3 38.1 1 57.6 9 79 4.8L C 60.7 4 3 6 0 08.0 8 67.5 8 59 3.8 C N B T N和C N B T NM-L C 1 0 0 x陶瓷样品经抛光并热蚀后的S EM照片如图2(a)(h)所示,C N-B T NM-L C 4陶瓷C e元素的映射图如图2(i)所示。由图2(a)(h)可见,所有陶瓷样品晶粒均是条形状,晶粒具有强烈各向异性,这是B L S F s材料的典型特征8。如图2(a)、(b)所示,C N B T N陶瓷异常长大晶粒较多,同时小晶粒也较多,晶粒大小呈双峰分布。随着M n离子的掺
21、入,这一现象遭到抑制。如图2(c)(h)所示,当0.0 1x0.0 4时,随着L i、C e的掺入及掺杂量的上升,晶粒异常长大现象进一步减少,晶粒大小变得更均匀,进一步表明,L i、C e的掺入抑制了陶瓷晶粒沿a-b方向的增长。当x0.0 5时,随着L i、C e掺杂量的进一步增大,异常长大晶粒增加,同时孔洞增多。为了研究L i、C e掺杂后陶瓷微观结构的演变,测试了C N B T NM-L C 4陶瓷表面元素C e的分布,如图2(i)所示。由图可以看到,C e元素均匀地分布在陶瓷样品中,未出现团聚现象。图2 陶瓷的S EM照片和C e元素映射图表2为C N B T NM-L C 4陶瓷各元素
22、离子含量对比,实际各元素离子含量由E D S测试得到。由表2可知,O2-实际含量降低,可能是由于高温烧结过程中氧空位的产生;C e离子实际含量与理论含量相符,表明C e离子成功地进入陶瓷晶格。由于部分C e离子会进入B位,这可能是T a5+/N b5+实际含量下降与N a+/B i3+/C a2+实际含量上升的原因。表2 C N B T NM-L C 4陶瓷各元素离子含量元素理论含量/%实际含量/%O6 4.2 96 4.1 3B i1 5.6 41 5.7 1T a7.1 47.0 9N b7.0 77.0 1C a3.5 73.9 1N a1.3 61.4 5C e0.4 30.4 4 图
23、3为1 0 01 0 0 0 c m-1内C N B T NM-L C 1 0 0 x(x=0.0 1,0.0 4,0.0 6)陶瓷的拉曼光谱。通过洛伦兹函数可拟合得到9个独立的拉曼峰,分别位于1 5 5 c m-1,1 8 1 c m-1,2 1 6 c m-1,2 8 4 c m-1,3 3 4 c m-1,4 4 4 c m-1,5 8 3 c m-1,8 0 8 c m-1,8 3 8 c m-1附近。如图3所示,其中,1 8 1 c m-1和2 1 6 c m-1附近的峰来源于A位阳离子的振动,并且随着L i、C e含量 的 增 加,呈 现 出 向 低 频 方 向 偏 移 趋 势。2
24、 8 4 c m-1,3 3 4 c m-1,4 4 4 c m-1,5 8 3 c m-1,8 0 8 c m-1,8 3 8 c m-1附近的峰主要与B O6八面体的扭转弯曲和拉伸振动有关,但随着L i、C e含量的增加,这些峰未发生偏移。这表明离子半径较小的L i、C e进入晶格A位部分取代了离子半径更大的N a、B i,并且L i、C e含量的变化对B位影响很小。图3 C N B T NM-L C 1 0 0 x陶瓷样品的拉曼图谱681第2期徐鸿飞等:L i、C e掺杂对N B T a-C B N高温压电陶瓷性质的影响研究以C N B T NM-L C 1和C N B T NM-L C
25、 4陶 瓷 为例,利用X P S光谱进一步研究了L i、C e掺杂量对C N B T NM-L C 1 0 0 x陶瓷化学环境变化的影响,如图4所示。图4(a)为01 2 0 0 e V内C N B T NM-L C 1和C N B T NM-L C 4陶瓷的X P S图谱,其中标注出了N a,B i,C e,O,C元素的峰。图4(b)(f)为局部放大的X P S光谱。图4 陶瓷的X P S光谱及局部放大的X P S光谱将C-1 s作为标准校准图谱,其结合能为2 8 4.6 e V,如图4(b)所示。由于C e O2的掺杂量较低,在图4(a)中C e-3 d峰不明显,利用A v a n t a
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