一种基于忆阻器的2T2M存储阵列的设计研究.pdf
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1、第4 9卷 第3期2 0 2 3年9月延 边 大 学 学 报(自然科学版)J o u r n a l o f Y a n b i a n U n i v e r s i t y(N a t u r a l S c i e n c e E d i t i o n)V o l.4 9 N o.3S e p.2 0 2 3收稿日期:2 0 2 3 0 5 0 8基金项目:吉林省教育厅科学研究项目(J J KH 2 0 2 1 0 5 8 9 K J)第一作者:蔡振扬(2 0 0 0),男,硕士研究生,研究方向为非线性动力学.通信作者:徐红梅(1 9 7 5),女,博士,教授,研究方向为非线性动力学.
2、文章编号:1 0 0 4-4 3 5 3(2 0 2 3)0 3-0 2 5 7-0 5一种基于忆阻器的2 T 2 M存储阵列的设计研究蔡振扬,刘苡萌,徐红梅(延边大学 工学院,吉林 延吉 1 3 3 0 0 2)摘要:为了提高非易失性存储器的存储密度和存储效率,提出了一种基于忆阻器的2 T 2 M存储阵列.该阵列采用1 01 0的交叉结构.S i m u l i n k仿真实验证明,该存储阵列不仅可以有效增加存储单元的存储密度和提高存储效率,而且电路结构简单;因此,该存储阵列可为高存储密度电路和图像存储的设计提供参考.关键词:忆阻器;存储阵列;2 T 2M;读写操作;存储单元;存储密度中图分
3、类号:T P 3 4 3 文献标志码:AD e s i g n o f a 2 T 2 M s t o r a g e a r r a y b a s e d o n m e m r i s t o r sC A I Z h e n y a n g,L I U Y i m e n g,XU H o n g m e i(C o l l e g e o f E n g i n e e r i n g,Y a n b i a n U n i v e r s i t y,Y a n j i 1 3 3 0 0 2,C h i n a)A b s t r a c t:A 2 T 2 M s t o r
4、a g e a r r a y b a s e d o n r e s i s t i v e s w i t c h i n g m e m o r y w a s p r o p o s e d t o e n h a n c e t h e s t o r a g e d e n s i t y,e f f i c i e n c y,a n d a c h i e v e r a p i d r e a d/w r i t e o p e r a t i o n s.T h i s a r r a y a d o p t s a 1 01 0 c r o s s-p o i n t s
5、 t r u c t u r e.S i m u l i n k s i m u l a t i o n s d e m o n s t r a t e d t h a t t h i s s t o r a g e c r o s s-p o i n t a r r a y n o t o n l y i n c r e a s e s t h e s t o r a g e d e n s i t y o f m e m o r y c e l l s a n d i m p r o v e s s t o r a g e e f f i c i e n c y,b u t a l s o
6、 f e a t u r e s a s i m p l e c i r c u i t s t r u c t u r e.T h e r e f o r e,t h i s s t o r a g e a r r a y c a n s e r v e a s a r e f e r e n c e f o r t h e d e s i g n o f h i g h-d e n s i t y c i r c u i t s a n d i m a g e s t o r a g e.K e y w o r d s:m e m r i s t o r s;s t o r a g e a
7、 r r a y s;2 T 2M;r e a d a n d w r i t e o p e r a t i o n s;m e m o r y c e l l;s t o r a g e d e n s i t y0 引言忆阻器作为一种新型存储器件,因其具有非易失性、开关特性以及可与CMO S工艺兼容等优点,因此可被用于阻变存储器件的制备中.为了提高忆阻器电路的存储密度、响应速度及其稳定性等,许多学者对其进行了研究.例如:徐红梅等1提出了一种基于忆阻器的S R AM存储单元的设计方案,研究显示该方案可有效提高存储单元的读写速度和稳定性,并可有效降低功耗;T e t z l a f f等2研
8、究显示,利用二阶动态路线图的分析方法对存储块的数据进行分析可显著减少存储块在存储电路中的使用数量;孙晶茹等3提出了一种基于异构忆阻器的多值存储交叉阵列,研究显示该阵列可用单个电压信号完成4值读写的操作,并且其电路结构简单,读写速度快,能够克服漏电流问题;I s h i z a k a等4将忆阻器技术与传统的CMO S电路相结合,设计了一种可有效提高纠错编码效率的方案;W a n g等5探究了在CMO S设计中应用多态忆阻器的可行性;M a n e m等6针对1 T 1 M多级电阻存储器提出了一种可读取写入电路,其研究还发现利用指数漂移忆阻器模型可以有效提高器件的写入速度;M a n e等7设计
9、了一种新型逻辑门电路,研究显示其可有效提高电路的可编延边大学学报(自然科学版)第4 9卷 程性和灵活性;S i n g h等8设计了一种7 T 2 M电路,研究显示该电路的稳定性和读写时间裕度优于传统的6 T 1 R电路;V o n t o b e l等9利用横纵交叉结构设计了一种存储阵列,研究显示该存储阵列可显著提高数据的读写速度.基于上述研究,本文设计了一种基于忆阻器的2 T 2 M存储交叉阵列,并通过仿真实验证明验证了该阵列的有效性.1 H P物理忆阻器的数学模型H P物理忆阻器的内部结构由两个T i O2层(放置在两个铂电极之间)组成,其中一层为掺杂区域,另一层为未掺杂区(纯T i O
10、2),如图1所示.忆阻器的总电阻由串联区域的两个可变电阻决定.对忆阻器施加外部激励电压(V(t),可使两个区域之间的边界发生移动,进而可使忆阻器的忆阻值发生变化.图1 H P物理忆阻器的内部结构示意图忆阻器的物理模型示意图如图2所示,其表达式为:M(t)=Mo f f+(Mo n-Mo f f)(t)D.(1)其中:D是T i O2层的厚度,(t)是掺杂区域的厚度,Mo f f和Mo n分别为(t)=0和(t)=D时的极限忆阻.图2 忆阻器的物理模型示意图区域边界的移动速度与流经忆阻器的电流之间的函数关系为:(t)=vMo nDi(t).(2)其中:v是半导体薄膜中的氧空位的平均迁移率,v1
11、0-1 4m2.s-1.V-1.对式(2)进行积分可得:(t)=vMo nDq(t)+(0).(3)将式(3)代入式(1)可得:M(t)=Mi n t+k q(t).(4)其中:Mi n t为初始忆阻;常数k为忆阻与电荷的比例因子,k=(Mo n-Mo f f)vMo nD2.根据欧姆定律,对式(4)进行整理可得:V(t)=M(q(t)i(t)=(Mi n t+k q(t)dq(t)dt.(5)其中:i(t)表示 施 加 到 忆 阻 器 上 的 电 流 强 度;M(q(t)表示t时刻的忆阻.磁通量与电荷q之间的函数关系为:d=M(q(t)dq.(6)对式(6)进行积分可得=2k(t)Mo f
12、f-Mi n tk.再将式(4)代入上式可得忆阻与磁通量的关系为:M(t)=2k(t)+M2i n t.(7)2 基于忆阻器的R R AM存储阵列的设计R R AM存储阵列由多个忆阻器组成,其可以通过行列选择线访问地址和读写数据.与传统的D R AM相比,R R AM存储阵列具有稳定性高、功耗低、访问速度快、存储密度大以及不需要刷新操作等优点.2.1 2 T 2 M存储单元的电路结构由于忆阻器具有逻辑切换的功能,因此可通过测量忆阻器两端的电压判断出忆阻器的阻态及其逻辑状态.基于忆阻器的上述特性,本文设计了一个2 T 2 M存储单元,其结构如图3所示.每个2 T 2 M存储单元均由2个忆阻器和2
13、个场效应管组成.由于忆阻器的电阻值是根据先前的存储状态决定的,因此可以通过读取电阻值来确定存储单元中的存储数据.图3 单个2 T 2 M存储单元的结构示意图852 第3期蔡振扬,等:一种基于忆阻器的2 T 2 M存储阵列的设计研究2.2 写操作的电路设计及其仿真分析图4为写操作的电路图.仿真电路中包含了2个忆阻器(M 1和M 2)和2个NMO S管(T 1和T 2),其工作原理为:当电路接入高电平时,T 1和T 2分别开启,电流经过M 1和M 2流向地;当通过线路接入到低电平时,由T 1和T 2两端的字线分别控制T 1和T 2的关闭,由此使得电流不再通过M 1和M 2.因此,控制T 1和T 2
14、的开关状态就可以分别对M 1和M 2进行写操作.在写入数据时,输入数据通过输入线路存储到2 T 2 M存储单元中,控制信号和忆阻器状态所对应的二进制值通过位线输入到2 T 2 M存储单元中.图4 2 T 2 M存储单元的写操作电路图图5为写操作的仿真图.由图5可以看出,在输入电压Vw d、Vw d 1、Vw d 2的激励下,忆阻器M 1和M 2的响应情况为:输入电压Vw d的幅度为4V,激励时间段为32 8n s;脉冲控制电压Vw d 1的幅度为5V,激励时间段分别为44.6n s和1 52 1n s;脉冲控制电压Vw d 2的幅度为5V,激励时间段分别为45n s和1 52 8.2n s;在
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