膜厚测试仪操作说明书.doc

目录

1. 概述 5
1.1 应用 5
1.2 仪器概述 5
1.2.1 MINITEST1100 6
1.2.2 MINITEST2100 6
1.3 配置 6
1.4 速查卡 6
1.5 测头 7
1.5.1 测头结构 7
1.5.2 MINITEST测头一览 7
2. MINITEST1100，2100使用前准备 8
2.1 检查电源 8
2.2 更换电池 8
2.3 选择测头 9
2.4 启动功能和仪器基本设立 9
2.4.1 总复位 9
2.4.2 LCD液晶显示器测试，检测LC显示的每一段 9
2.4.3 显示/调整时间和日期 9
2.5 仪器的基本设立 10
2.5.1 选择测量单位: 公制 / 英制 11
2.5.2 自动关机与非自动关机的选择 11
2.5.3 浮点小数和定点小数的选择 11
2.5.4 单值和批组记录之间的转换 12
2.5.5 数据存储的人工和自动模式之间的转换 12
2.5.6 连续模式中，测量稳定后数据才被显示和存储 12
2.5.7 ZERO，CAL，CTC，OFFSET锁定，锁定校准键 12
2.5.8 背景光照明选择(可选) 12
2.5.9 在连续模式下，保存最小测量值 13
2.5.10 单次测量和连续测量模式的转换 13
3. 校准及测量 13
3.1 校准 13
3.1.1 校准方式 13
3.1.2 保存校准值 14
3.1.3 校准举例 14
3.1.4 基体厚度的影响 14
3.1.5 提高校准精度 15
3.1.6 清洁测点 15
3.1.7 “嘀嘀”声鸣响信号 15
3.1.8 温度补偿特性 15
3.2 校准分述 15
3.2.1 使用标准校准 15
3.2.2 无箔的一点校准 16
3.2.3 两点校准(带有一片校准箔的零校准) 17
3.2.4 两点校准(用两片箔) 18
3.2.5 透过镀层校准 19
3.2.6 用FN2两用智能型探头的校准和测量 20
3.2.7 用N10和N20探头校准和测量 20
3.2.8 用N100探头校准和测量 21
3.2.9 用F20探头测量和校准 23
3.2.10 用F50探头测量和校准 23
3.2.11 用内孔探头F2/90等校准和测量 23
3.2.12 铜、铝、黄铜上的镀铬层的校准和测量 24
3.2.13 用CN02探头校准和测量 24
3.2.14 在喷丸表面校准和测量 24
3.2.15 调整基础校准值 25
3.3 测量和误差 25
3.4 使用脚踏开关 26
4. 测量记录 26
4.1 记录值的定义 27
4.2 为记录分析输入测量值 28
4.3 删除不对的的读数(参见12) 28
4.4 存储溢出 28
4.5 显示和打印记录值(无测量值) 28
4.5.1 单值记录模式 28
4.5.2 组记录模式 29
4.6 打印记录值和读数 30
4.6.1 单值记录模式 30
4.6.2 组记录模式 30
5. 删除 31
5.1 删除最后一个读数 31
5.2 删除记录值(对MINITEST 2100) 32
5.3 删除所有读数和相关的记录值、极限值、校准值 32
6. 在未接探头的情况下使用仪器 32
7. MINIPRINT 4100数据打印机 32
7.1 换纸 33
7.2 更换色带 33
7.3 镍铬电池的快速充电 34
7.4 打印机自检 34
8. 连接个人电脑PC 35
9. 用个人电脑PC控制测厚仪 35
10. 组合接口(连接脚踏开关,蜂呜器或提醒灯,选件) 35
11. MINITEST与MINIPRINT接口 35
12. 可选件 35
13. 维护和保养 36
14. 售后服务 36
15. 其它仪表 36
16. 故障排除 36
17. EC确认声明 37

操作手册
涂层测厚仪 MINITEST 1100
MINITEST 2100
打印机 MINIPRINT 4100

MINITEST1100和2100型测厚仪，根据测头类型的不同，分别运用磁感应和涡流原理测量覆层厚度，并符合以下工业标准:
DIN 50981、50982、50984；ASTM B499、B244；ISO 2178、2360；BS 5411。
DIN 50981和50984已经被DIN EN ISO 2178和DIN EN ISO 2360所代替。
1. 概述
1.1 应用
MINITEST1100和2100型测厚仪，是便携式、无损、快速、精确测量覆层厚度的精密仪器。重要应用于防腐、电镀、化工、汽车、造船、航空、轻工等行业，适合实验室、工厂和户外现场使用。配置不同的测头，合用于不同场合。
与MINIPRINT打印机连接，可打印出所有读数和记录数据。
MINITEST 1100 只能即时打印所有读数。
F型测头根据磁感应原理，测量钢或铁基体上的非磁性覆层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、珐琅、橡胶等，也适合于合金和硬质钢。
N型测头根据涡流原理，测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。
FN两用测头同时运用磁感应原理和涡流原理，一支测头既可以用在铁磁性基体上，也可用在非铁磁性金属基体上。
所有MINITEST1100/2100“智能型”测头能适合一些特殊规定，比如可合用于曲面结构或有特殊性质的材料。测头根据储存的相应信息，自动适应所需的条件。
1.2 仪器概述
在钢上测量时，MINITEST1100/2100运用电磁感应原理，在非铁磁性基体上测量时，基于涡流原理。
键盘控制可转移至PC电脑，使之进入自动控制网络。
测量值和用户信息显示在大型液晶显示器上。弱光时，显示器可选背景照明，保证阅读屏幕数据。
1.2.1 MINITEST1100
MINITEST 1100型可以方便地测量，测量值不存储、不记录。
1.2.2 MINITEST2100
MINITEST2100型的存储器阵列可自动存储10,000个以上读数。数据可打印和记录评估。
1.3 配置
主机、测头、零点样板、标准箔、碱电池和多语言操作手册。
可选附件:
· 特殊功能的测头
· MINIPRIN2100便携打印机(带串行电缆)
· 皮盒，或防尘罩
· 程序软盘MSOFT41，运营于WINDOWS 95，用来解决MINITEST数据、记录值和直方图
· MINITEST/PC的9/25针串行接口电缆
· MINITEST/Mitutoyo打印机的串行电缆
· 精密支架，用于高精度测量和小样本测量
· 220VAC/12VDC电源
· 110VAC/12VDC电源
· 蓄电池和充电器(220VAC或110VAC)
1.4 速查卡
键盘说明和指令举例，见封二
1.5 测头
1.5.1 测头结构
所有的测头(CNO2和特殊测头除外)都安装在套管里，以保证测头安全稳定地定位，并保持测头适当的接触压力。套管前端的V型槽可保证在凸面上准确测量。测量时须握住测头上套管，保持测头轴线与被测面垂直(见图)。测头的顶端，由耐用的硬质材料制成。
1.5.2 MINITEST测头一览
下表所列测头都可与MINITEST1100，2100连接
区分测头类型的标志有:
保护套颜色
黑=F头
红=N头
绿=FN头
测头说明书
辨认型号，代码，如F1(A1)
测头的标记代码须与主机内存的数据相相应，当定购、更换测头时，须报出辨认代码。
牢记:MINITEST1100/2100和测头是可以更换的。若用户有几台MINITEST主机和多只测头，则可根据需要进行各种组合。
测头类型表
型号
量程
适别代码

F06
0~600mm
A0
铁基体
F1.6
0~1600mm
A1
F3
0~3000mm
A1
F1.6/90
0~1600mm
A4
F2/90
0~2023mm
A4
F10
0~10mm
A6
F20
0~20mm
A8
F50
0~50mm
AA

FN1.6
0~1600mm
80
铁、非铁基体
FN2
0~2023mm
80

N02
0~200mm
A2
非铁基体
N1.6
0~1600mm
A3
N2
0~2023mm
A3
N1.6/90
0~1600mm
A5
N2/90
0~2023mm
A5
N10
0~10mm
A7
N20
0~20mm
A9
N100
0~100mm
B1

CN02
10~200mm
B4
绝缘体上金属

2. MINITEST1100，2100使用前准备
2.1 检查电源
1. 9V碱性电池、9V蓄电池或直流电源
2. 按ON键，检查电池
· 无LC显示，表达无电池，或蓄电池充电电压低，无法显示。须充电。
· 无BAT显示，电池已充足电
· BAT显示，主机1秒钟后自动关机。请迅速更换电池。假如在测量时，BAT不断地闪烁，表达电池电压低，须更换。否则LC显示屏会显示BAT，并在1秒后自动关机。
注意：即使在电压低的时候，也不会作错误测量。
2.2 更换电池
1) 将主机翻转
2) 用十字螺丝刀松下电池盒的螺丝
3) 揭下盒盖
4) 取出电池
5) 置入新电池
注意:保证正、负极无误，否则所有存储数据将会丢失。换电池时间间隔超过10秒也会使数据丢失(涉及读数、校准值、时间和日期)
6) 装上螺丝
2.3 选择测头
根据任务选择测头(请阅技术指标)，安上并拧紧。
2.4 启动功能和仪器基本设立
MINITEST1100和2100有些功能，只有在启动的时候才干起用:
初始功能表
功能
按键组合
总复位
FUNC+CLEAR+ON
LCD测试
ñ+ON
批解决目录列表
APPL+ON
调整时钟
CAL+ON
仪器选项设立
FUNC+ON
2.4.1 总复位
总复位将消除所有存储数据，涉及读数和记录数据，极限值，校准值。还将消除所有临时设立，并恢复到基本的Modi-设立。
重新启动前须插上测头
1) 关机
2) 同时按CLEAR+FUNC+ON键，长长一声“嘀”表白功能已确认。
2.4.2 LCD液晶显示器测试，检测LC显示的每一段
1) 关机
2) 同时按ñ+ON键，直到“嘀”一声，一直摁住ñ键即显示LC显示屏的所有部分。
2.4.3 显示/调整时间和日期
仪器的石英计时器，可将时钟信息转到MINIPRIN2100上，打印记录数据时即附有当时日期和时间。
如需显示，调整日期和时间，其环节如下:
1) 关机。
2) 同时摁CAL+ON键，直到嘀的一声。
如使用的是FN头，还需接一个箭头键。
3) TIME字样闪烁，并显示年份，形如Y=95
4) 用箭头键调节至对的的年份。
5) 按CAL显示出月份。
6) 用箭头键调节至对的的月份。
7) 按CAL显示出日期。
8) 用箭头键调节至对的的日期。
9) 按CAL显示出小时。
10) 用箭头键调节至对的的小时。
11) 按CAL显示出分钟。
12) 用箭头键调节至对的的分钟。
13) 再按CAL键保存新的日期和时间，秒钟重置为0。仪器自动返回至测量模式。
注意:在显示和调整时，时钟停走。如无须调整，则按CLEAR，仪器回至测量模式。
例如开机时为4月1日，会有一段音乐。音乐停止后，可变更日期。
2.5 仪器的基本设立
1) 关机。同时按FUNC+ON键。
2) 直到听到信号，仪器此时显示一对数字:1:0或1:1
注意:如使用FN2头，则用ñ转到F方式，用ò转到N方式。
3) 按FUNC键可在1-8功能中移动，用箭头键来设立0或1。
4) 再按FUNC键，返回到测量模式。

FUNC
ñ ò
模式设定

1
0
单位选择
公制/mm
1
英制/inch
2
0
关机模式
延时自动关机
1
非自动关机
3
0
数字模式
浮点小数
1
定点小数
4
0
记录模式
单测值记录
1
批测值记录
5
0
记录输入方式*
手动
1
自动
6
0
等待读值稳定*
稳定的读值
1
每个读值
7
0
ZERO,CAL,CTC各键的锁定
开锁
1
锁定
8
0
背景光
无背景光
1
有背景光
9
0
存储最小值*
不存储
1
存储
10
0
无此功能

1

2.5.1 选择测量单位: 公制 / 英制
将测量单位从公制(μm，mm，cm)转换至英制(密耳，英寸)，环节如下:
1) 关机
2) 同时按FUNC+ON键。
3) 听到'嘀'一声，仪器会显示一对数字(如1:0)
4) 用箭头键调节所需的测量单位，0=公制，1=英制
5) 按FUNC键8次，返回测量模式。测量即使用新的测量单位，以前存储的读数也会自动转换成新的测量单位(仅对MINITEST 2100)。
2.5.2 自动关机与非自动关机的选择
仪器可设立为90秒自动关机，和非自动关机。
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.3 浮点小数和定点小数的选择
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.4 单值和批组记录之间的转换
(仅对MINITEST 2100)
单值记录给出读数的平均值，批组记录则给出均值的均值(平均值的平均值)。批组记录时,每组通常为5个读数,读值的个数也可通过PC电脑选定。记录计算结果可打印,或送至PC电脑。
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.5 数据存储的人工和自动模式之间的转换
(仅对MINITEST 2100)
0:人工存储，用ñ键实现。
1:自动存储。自动模式下，读数以每秒5个的速度输入内存。
连续模式测量时，测量值自动进入内存。假如要有选择地使读数进入内存，即采用人工存储模式。人工存储模式下，用ñ键或脚踏开关(另购)输入数据(请阅2.5.9)。
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.6 连续模式中，测量稳定后数据才被显示和存储
标准设立下，通过数字滤波器，只有当测量信号稳定在给定的范围之内后，读数才被显示，称为“等待读数稳定”。
在连续测量模式中，“等待读数稳定”过程可被取消。这样可以简便地辨认最大和最小厚度值。(见4.2.8和4.2.14)
仅2100可以传输记录数据。
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.7 ZERO，CAL，CTC，OFFSET锁定，锁定校准键
运用KEYLOCK锁定功能，可避免错误的校准。CTC仅对2100。
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.8 背景光照明选择(可选)
LC照明灯可选。设定期，读取读数后灯亮2秒种。照明灯需耗电。
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.9 在连续模式下，保存最小测量值
该功能可以拟定一次连续测量中的最小值。测量时显示当前值，抬起探头后则显示这一串读值中的最小值5秒钟。用ñ键或脚踏开关，可以把该值送去记录。
该最小值在送去记录或显示5秒后即被删除。在5秒内又作下一次测量，则已存在的最小值也被保存。这一功能用来在连续测量中，观测最小值。
参阅2.5节的设立表，用FUNC键和ñ、ò箭头键调至所需模式。
2.5.10 单次测量和连续测量模式的转换
连续测量模式下，探头无须在每次测量后抬起。
1) 开机
2) 按FUNC，然后CONTINUE键，一声"嘀"，即确认了模式转换。
3) 连接模式下，测量单位(μm，mils)闪烁。读值超过量程将标明----。连续测量模式下，无随着的"嘀"声，无背景灯照明。
4) 用ñ键或脚踏开关(另购)控制，读数是否进入记录内存。
5) 按照2.5.5中方法，只要内存足够，读数即可连续、自动地进入记录程序。
6) 要返回标准单次测量模式，或者反复环节1和2，或者关机、开机一次(关、开机不适合探头F2/90，N2/90，N100)
3. 校准及测量
3.1 校准
3.1.1 校准方式
MINITEST1100/2100有以下五种不同的校准方式：
· 标准校准:适合平整光滑的表面和大体的测量。例如，低于一点校准精度规定的场合。
· 一点校准:置零，不用标准箔。用于允许误差超过3%的场合。
· 二点校准:置零，用一片标准箔。用于误差范围在1-3%(最大)之间的测量。探头误差范围应另考虑。
· 二点校准:置零，用二片标准箔。用于以下场合:
A). 在粗糙表面测读;
B). 厚度在两片箔厚之间的平滑表面的精确测量。
透过厚度未知涂层的校准:用箔校准(仅合用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2测头,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探头)。假如被测样本在校准时，没有无涂层的用于比较的样本，应当采用此法校准。
注意:校准箔是指所有的校准标准，涉及2mm，5mm，10mm厚的标准板。
3.1.2 保存校准值
仪器在指定条件下校准，其校准值即存入内存，直到再次校准(见3.1.8)。
若使用同一个探头，要改变校准值，只需重新做一次校准，这样就自动删除先前的校准值，存入新值备用。
注意:在校准过程中出现下列情况必须重新校准：
· 读入错误读数
· 输入错误命令
· 仪器关机
3.1.3 校准举例
精确的测量必须校准，校准样本越接近被测样本，校准和测量就越准确。
例如:假如被测样本是一个直径为6mm的低碳钢柱，那么无涂层校准样本的直径和材料也必须相同。校准样本必须在下列几点上与被测样本相符:
· 表面曲率半径
· 基体材料
· 基体厚度
· 被测面积
校准样本上，校准点位置必须与产品的测量点一致。假如测量小样本或边角位置，最佳用精密支架定位。
3.1.4 基体厚度的影响
只要钢基体厚度大于探头的量程，对测量就没有影响。
对于有色金属，基体厚度大于40μm就足够了。但要保证基体在探头接触压力下不变形，例如可以把一块薄铝片放在硬质基体上测量。
随附的钢、铝零板仅用于测试，一般不用于校准。除非待测样本表面平滑并具有以下条件，零板方可用于校准:
1) 钢部件厚度超过1mm，可以把零板放在被测样本上校准。
2) 铝部件厚度超过40μm，所附铝箔可用于校准。测量时要把铝箔紧贴在一块硬质基体上。
3.1.5 提高校准精度
为得到高精度校准，有必要将校准值(零值和校准箔值)逐次存入多次。这样，仪器会自动形成一个平均校准值，详见4.2.2-4.2.9的校准，这种方式在非平滑，例如喷丸表面校准特别有利。
3.1.6 清洁测点
校准前，测量点和探头顶部的油渍，金属碎屑须清除干净。少量的杂质也会影响测量，改变读数。
3.1.7 “嘀嘀”声鸣响信号
校准和测量中，仪器呜响之前探头都不得移位。呜响后探头才干离开。
3.1.8 温度补偿特性
在不同的环境温度下仪器无需重新校准。仪器自动对温度变化补偿(见技术数据)。
3.2 校准分述
按照4.2.2-4.2.14校准时，基本环节如下:
1) 按相关的校准键(ZERO，CAL或CTC)开始校准;
2) 将探头置于试板上;
3) 再按校准键(ZERO，CAL，CTC)停止校准。
3.2.1 使用标准校准
标准校准合用于除CN02外的所有探头。方法如下：

1
2
ZEROO
CLEARR
标准校准
ZERO闪烁
清除

1) 按ZERO键
2) 按CLEAR键
3) 读数
存储在仪器中的标准校准仅只合用于平滑表面的测量，例如:
a).生铁，b).铝材上。
注意:重要的是记录下多个物涂层样本上的精确的零读数。否则，须使用一点或两点校准.
3.2.2 无箔的一点校准
(只校零，合用于除CNO2外的所有探头)，环节如下:

1
2
3
ê
ZERO
ZERO
无箔的单点校准
ZERO闪烁
多次测量
ZERO不闪烁

1） 按ZERO键，启动零校准。显示屏将显示ZERO(闪)和MEAN(不闪)字样。MEAN表达显示的是平均值。
2） 将探头置于无涂层样本上(即零测厚)，嘀一声后再抬起探头。反复多次，显示器始终显示先前读数的平均值。
3） 按ZERO键，ZERO字样停止闪烁。
4） 校准完毕，开始测量。
5） 若要消除零校准，方法有二：
a) 按ZERO+CLEAR键，即删除零校准和任何存在的校准值。
注意:这样须重新使用平滑表面的标准校准。
b) 反复以上1-3步，重新开始零校准。
3.2.3 两点校准(带有一片校准箔的零校准)

1
2
3
4
5
6
7

ê
ZERO
ZERO
CAL
CAL
ê
用零板和校准箔进行两点校准
ZERO闪烁
多次测量
ZERO不闪烁
CAL闪烁
用箔进行
多次测量
调整数值
CAL不闪烁

合用于所有探头(CNO2除外)的高精度测量，小部件测量和硬的低合金钢。
两点校准环节如下:
1) 按ZERO键，开始零校准，显示屏将显示ZERO(闪)和MEAN(不闪)，`MEAN'表达读数是平均值。
2) 将探头置于无涂层样板上，“嘀”一声后抬起探头。如此若干次。显示器总是显示先前读数的平均值。按CLEAR中止零校准。
3) 按ZERO键，“ZERO”停止闪烁。
4) 按CAL键开始用箔校准，显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。`MEAN'表达读数是平均值。
5) 将校准箔置于无涂层样本上，放上探头，“嘀”声后抬起探头。如此数次。所选箔的厚度应大体与被测涂层厚度相称。
按CLEAR键中止校准。
6) 用ñ，ò箭头键将读数调节至表白的箔厚。
7) 按CAL键，“CAL”停止闪烁。校准完毕，开始测量。
8) 将探头置于未知涂层上测读，“嘀”一声后抬起探头。
9) 必要时候，例如输入了错误的数据，可删除CAL校准值。方法有二:
a) 按CAL，CLEAR键，清除校准和所有零校准。
注意:这将重新激活用于平滑表面的默认的校准值。
b) 反复以上环节4-7，重新启动CAL校准。这样就可以自动覆盖老的校准值，存入新值。
注意:无论是在直接或是批解决方式测读，箔校准都可根据需要随时进行。老的校准值将被覆盖，零校则保存在内存中。
特别注意，用F10，F20探头测量金属覆层，校准时，校准标准必须与实际覆层是同种金属。
3.2.4 两点校准(用两片箔)
合用于除CN02外的所有探头
两点校准仅合用于非连续测量模式。测量模式可用2.5.9中的方式转换。
这种方法要用两片厚度至少相差2倍的校准箔。被测样本覆层预计厚度最佳在这两片校准箔之间。这种方法特别合用于
粗糙的喷砂表面和高精度测量。校准时采用多次测读取平均值的方法，可以大大地减少高低值校准时出现的波动带来的影响。
两点校准(用两片箔)环节如下:

1
2
3
4
5
6
7
8
CAL
CAL

ê
CAL
CAL
ê

用两片校准箔进行两点校准
CAL闪烁
用箔1进行
多次测量
调整数值
CAL不闪烁
CAL闪烁
用箔2进行
多次测量*
调整数值
CAL不闪烁

1) 按ZERO键，置探头于无覆层的样本上，再按ZERO键。得到一个大约的零点。
校准箔可以任何顺序使用。
2) 按CAL键开始用箔校准，显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。`MEAN'表达读数是平均值。
3) 用较薄的一片校准箔(比如,大约10-30u)置于无涂层样本上，置上探头，"嘀"声后抬起探头。如此若干次。
按CLEAR键，终止校准。
4) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。
5) 按CAL键，“CAL”停止闪烁。仪器接受了第一个校准值。
6) 按CAL键开始校准。此步须紧跟第5步以后，仪器在按CAL键以前不接受读数。
显示器上出现CAL(闪)和MEAN(不闪)字样。'MEAN'表达读数是平均值。
7) 用较厚的一片校准箔(至少是薄的2倍)置于无涂层样本上，置上探头，"嘀"声后抬起探头。如此若干次。
按CLEAR键，终止校准。
8) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。
9) 按CAL键，“CAL”停止闪烁。
10) 校准完毕，开始测量。
11) 需要时(例如输入错误数据)可删除CAL校准值。方法有二:
a) 按CAL，CLEAR键，清除校准值。
注意:这将重新激活用于平滑表面的默认的校准值。
b) 反复2-9环节，重新开始CAL校准。将会自动覆盖老的校准值，存入新值。
3.2.5 透过镀层校准
(Calibration Through Coating—CTC方式，专利号DE3404720C2)
若校零时镀层不能移开，用CTC方式特别方便。CTC仅合用于F06，FN2(F部分)，F2，F2/90，F10，F20和F50等探头。
CTC模式仅合用于校准点涂层光滑，并且测量值可重现的场合。CTC不能用于有织构的酥松的覆层。
FUNC
CTC
CTC
CTC

ê
ê
在有涂层表面上进行校准
记录
CTC闪烁
多次测量

用箔进行
多次测量
调整数值
CTC不闪烁

1) 按FUNC+CAL/CTC键，开始CTC校准。显示CTC(闪)和MEAN(不闪)字样。`MEAN'表达读数是平均值。
2) 测读。将探头置于被测样本的校准点，'嘀'一声后抬起探头。如此数次。
3) 按CAL键。
4) 将校准箔置于同一点，置探头其上，'嘀'一声后抬起探头。如此数次。
按CLEAR键，终止校准。
所选箔厚应当大体等同于预计的覆层厚度。
5) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。
6) 按CAL键，CTC停止闪烁。
7) 校准完毕，开始测量
8) 必要时，可删除CTC校准。方法有二。
a) 按FUNC+CAL / CTC+CLEAR键，删除CTC校准。
注意:这将会激活用于平滑表面的默认的标准校准值。
b) 反复以上1-6步，重新开始CTC校准，老的校准值被自动覆盖，新值存入。
3.2.6 用FN2两用智能型探头的校准和测量
FN2智能型测头，既可用磁感应原理工作，又可用涡流原理工作。
选择F方式和N方式,方法如下:
按ON键开机，测量方式`FERRONS'字样会闪现在屏幕上。
用ñ键，选择`Ferrous'─电磁感应法。
按ò键，选择`non-ferrous'─电涡流方法。
假如不按键，则仪器在5秒后自动显示`Ferrous'─电磁感应原理。校准和测量方法，请见3.2.2、3.2.3、3.2.3或3.2.5。
3.2.7 用N10和N20探头校准和测量
使用N10和N20探头校准和测量，校准标准和涂层必须是非导电材料。
1) 标准化
1 2 3
ê
ZERO
FUNC

乙烯块

将探头放在两片箔中厚的一片上，箔下面无任何金属。为避免任何外部非导电性影响，校准箔的最有效的基体是至少3cm厚的聚笨乙烯块。
按FUNC+ZERO键。
2) 校零和校准
4 5 6 7 8 9 10
ZERO
ZERO
ê
CAL

ê
CAL

ZERO闪 零板 ZERO不闪 CAL闪 多次测量 CAL停闪

按3.2.2、3.2.3或3.2.4的方法校准和测量。
3）消除涂层材料的非导电性影响
置探头于涂层上，无金属基体。按FUNC+ZERO键。
11 12 13

ZERO
FUNC
ê

多次测量

注意:这会消除自动温度补偿性能，万一温度变化时需重新校准。
3.2.8 用N100探头校准和测量
用N100探头测量材料或涂层厚度，基体材料可为铁磁性的或非铁磁性的。基体面积至少30×30cm。
在面积较小,但不小于15×15cm时，测量误差增大(见表)。
要将误差减至最小，请注意以下两点:
(a). 校准时，选择标准片厚度应与材料厚度接近(见以下校准方法)。
(b). 用两个标准片进行两点校准。
预期的厚度应介于两标准片厚度之间。校准方法如4.2.4所述。
1) 开机，开机后，仪器自动进入连续测量模式。连续模式有助于测量材料厚度。
闪现的测量单值(um，mils)表达正在使用连续模式。厚度超过量程则显示----’。
如需单值测量，可按FUNC+CONTINUE键
2) 标准化
1 2 3
ZERO
FUNC

将探头悬空，并按FUNC+ZERO键
3) 置零

4 5 6
ZERO
ZERO

将探头置于无涂层表面，并按ZERO键，'ZERO'字样闪现，并有连续的嘀’声。再按ZERO键，`ZERO'停止闪烁，'嘀’声停止，显示0.0mm。

7 8 9 10
CAL

CAL

CAL闪 CAL停闪

4) 校准
将提供的校准片(例如大约50MM)置于探头底部凹处。校准片厚度应接近被测物预计厚度。
将两者放于“反射”箔(即基体)上，探头底部须与基体平行。
按CAL，'CAL'字样闪现并伴有连续的'嘀'声。用箭头键调整读数至标准厚度。再按CAL，CAL’停止闪烁。
5) 消除涂层材料的非导电性影响
11 12 13
ZERO
FUNC

输入校准值以后，将探头置于无金属基体的材料上(至少厚30mm)。
按FUNC，ZERO键。
此过程须在校准a)、b)的前题下执行。
6) 仪器现在可以测量了
注意:建议在以下情况下重新检查、校准
1) 关机两个多小时以后
2) 温度变化10℃以上
3) 仪器用于其它类型材料时，需反复第5点。
3.2.9 用F20探头测量和校准
接上探头，开机。开机后仪器自动进入连续测量模式，连续模式有助于测量材料厚度。
连续模式下，mm、mm等单位在闪烁。厚度超过量程则显示(----)。
将探头悬空，按FUNC+ZERO键。以消除温度变化的影响。随着一声响，探头和仪器校准完毕。参见4.1、4.2。
开始测量，可以用ñ键将该数取入记录。
3.2.10 用F50探头测量和校准

F50探头必须与MlNlTEST1100/2100连用来校准和测量。参见4.2.2、4.2.4.校准和测量。
探头位置对测量结果有影响。为此，仪器自动读取无穷远值时探头对被测物体的角度，和用探头测量时探头对被测物体的角度必须相同。此外，测量时探头接近被测物体的速度必须恒定。
为消除磁滞误差，每次测量后探头必须远离被测物体，并保证远离任何金属物体至少0.3m。
注意：F50探头的磁场也许干扰临近的电子设备或仪器。要免去干扰，建议应远离电脑、监视器、或其它电磁数字信号至少1m。
3.2.11 用内孔探头F2/90等校准和测量
涉及F1.6/90、F2/90、N1.6/90，N2/90
在单次测量模式下，校准和测量方式如常。
连续测量模式的测量和校准过程稍有不同:
1).按照3.2.2、3.2.3、3.2.4所述，用单次测量模式方法进行。
2).可按ñ键，或脚踏开关将最后一个读数输入内存。
用FUNC+CONTINUE键在单次和连续测量之间转换。
3.2.12 铜、铝、黄铜上的镀铬层的校准和测量
合用于FN1.6, FN2, N2, N1.6/90和N2/90探头，需一个特殊的校准箔。
1) 必须使用4.2.3的两点校准方式。
2) 用标明为“铜上镀铬”，“铝上镀铬”或“黄铜上镀铬”等的特殊标准箔校准。
3.2.13 用CN02探头校准和测量
CN02是用于平滑表面，测量铜片或铜箔的厚度的探头。
CN02仅能用一点法校准:
1) 按CAL开始校准。LC显示CAL(闪)和MEAN(不闪)，MEAN表白读数是平均值。
2) 将金属校准箔置于至少10mm厚的无涂层绝缘样本表面。置探头其上，嘀声后抬起探头，如此数次。
按CLEAR键终止校准。
箔的厚度应当大体等同于预计的样本厚度。
3) 用ñ、ò键调整读数至标准箔厚度。
4) 按CAL键，CAL停止闪烁。
5) 校准完毕，开始测量
注意:
· 对双面覆层PC印刷电路板需用双面敷铜标准板校准。
· 测量铜以外的非铁磁性金属箔时按1-5环节进行校准。标准箔材料应与实际覆层材料相同。
3.2.14 在喷丸表面校准和测量
喷砂表面的物理性质导致读数偏大，其尖端上的覆层平均厚度可用下面的方法拟定。记录程序在这里非常有用。
方法一：
用4.2.2或4.2.3的方法，将仪器在曲率半径和基体材料相同的平滑表面校准好。
在无覆层的通过同样喷砂解决的表面测量10次左右，得到一个平均值,记作。
再在有涂层的喷砂的被测样本上测次得到中值。
Xm与Xo之差(Xm - Xo)±S就是复层厚度。其中
S是Xm与Xo二个值的标准偏差。
将Xo值作为一个负的OFFSET值输入。
方法二：此方式用于表面粗糙度≤20um的表面。
1).在喷丸的无涂层基体上作一次用10个读数的零校准。
2).然后在无涂层的基体上，用一片校准箔测读5-10次,用平均值校准。该箔可由数片小于50um的箔组成，箔厚应与预计涂层厚度相同。
方法三(仅适合MINITEST 2100):
用两片校准箔校准。
按4.2.4中的两点法校准，此法的结果更可靠。
应对每片校准箔测读5-10次,用平均值校准。校准箔可由数片小于50um的箔组成，箔厚应与预计涂层厚度相同。
注意:以上方式在涂层厚度超过300um时，表面粗糙限度可被忽略。
3.2.15 调整基础校准值
以下情况下，要调整基础校准值:
· 假如探头磨损
· 为特殊用途(必要时,请与生产厂家联系)
基础校准由PC电脑，用特殊软件设立。
3.3 测量和误差
假如校准对的，所有读数将保持在允许误差范围之内(见技术数据)。
强磁场、大电流(如变压器输出端、母线附近)会使测量显示延迟。
用记录程序在一个点多次测读，校准和测量会更加精确。异常的读数要用CLEAR键擦除。
最后的结果是记录计算和允许误差之和：
Th＝X±s±u
Th─复层厚度； X─平均值；
s─标准偏差； u─仪器充许误差。
例如：X＝153μm，s＝±3μm
u ＝±(1％X+1μm)
＝±(1.5μm+1μm)
＝±2.5μm
Th ＝(153±(3+2.5))μm
＝(153±5.5)μm
3.4 使用脚踏开关
连续测量模式下，操作员可以用ñ键或脚踏开关(选件)拟定哪些读数进入记录程序。脚踏开关在操作员两手同时操作时特别有用，比如用管内测头F1/90,N2/90时。
4. 测量记录
本节只适合于MINITEST 2100
MINITESF 2100测厚仪有两种记录程序。一种是读数记录，一种是组记录(DIN 50982)。
MINITES1100能从批