太阳电池阵基板锁相红外检测中的缺陷特征分析.pdf
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1、宇航材料工艺 http:/ 2024年 第1期 测试分析 太阳电池阵基板锁相红外检测中的缺陷特征分析郑金华 盛涛 向苹 徐红杰 陈超(上海复合材料科技有限公司,上海 201112)文摘 针对太阳电池阵基板在制造过程中产生的脱黏缺陷产生的质量问题,开展锁相红外热成像检测研究。通过设计与电池阵基板脱黏类型一致的对比试块,分析含胶均匀性、碳纤维网格致密性对检测图像的影响,获取真实脱黏缺陷特征信息及参数,实现自动筛选缺陷。测试结果表明,锁相红外热成像能够有效检出太阳电池基板脱黏缺陷,可以有效提高产品检测效率,减少检测人员的工作强度。关键词 基板,锁相红外,脱黏缺陷,自动筛选中图分类号:TG115.28
2、 DOI:10.12044/j.issn.1007-2330.2024.01.012Analysis of Defect Characteristics in Phase-locked Infrared Detection of Solar Array SubstrateZHENG Jinhua SHENG Tao XIANG Ping XU Hongjie CHEN Chao(Shanghai Composite Materials Technology Co.,Ltd.,Shanghai 201112)AbstractTo address the quality problems caus
3、ed by the debonding defects of the solar array substrate during the manufacturing process,the phase-locked infrared thermal imaging detection research was carried out.By designing a reference block that was consistent with the debonding type of the battery array substrate,the influence of the unifor
4、mity of the adhesive content and the density of the carbon fiber mesh on the detection image was analyzed,and the real debonding defect feature information and parameters were obtained,so as to realize automatic defect screening.The test results show that phase-locked infrared thermography can effec
5、tively detect the debonding defects of the solar cell substrate,effectively improve the product detection efficiency and reduce the work intensity of the inspectors.Key words Substrate,Phase-locked,Debond defect,Automatic screening0 引言太阳电池阵基板作为太阳翼的主要结构部件之一,是卫星电源分系统的重要组成部分。太阳电池阵基板为碳纤维/环氧网格面板+铝蜂窝的三明治结
6、构,四周用矩形梁和铰链支座加强,板内胶接各种预埋件及压紧套,并在其中一面碳纤维网格面板上粘贴聚酰亚胺薄膜,采用此膜包装基板使其表面绝缘满足粘贴电池片的要求,太阳电池阵基板结构示意图如图1所示1-4。在基板中网格规格通常为6 mm6 mm,加密区为3 mm6 mm,碳纤维束的宽度为1 mm,厚度为0.2 mm,聚酰亚胺薄膜的厚度为0.05 mm。基板是太阳翼的主承力结构,在制造过程中有可能存在聚酰亚胺薄膜同网格面板之间的脱黏(以下简称薄膜脱黏),以及碳纤维网格面板的正交节点脱黏(以下简称节点脱黏),这些缺陷严重影响了产品质量。针对此类问题通常采用非接触式的红外热图1太阳电池阵基板结构示意图Fig
7、.1Structural diagram of solar array substrate收稿日期:2022-09-22第一作者简介:郑金华,1988年出生,硕士,高级工程师,主要从事超声、射线、红外检测的研究工作。E-mail: 93宇航材料工艺 http:/ 2024年 第1期成像检测。冯君伟等人5使用了锁相红外技术检测了CFRP网格面板蜂窝夹层结构。江海军等人6使用了锁相红外热波成像技术检测了碳纤维蜂窝夹层网格面板。聂旭萌7在航天器用网格面板蜂窝夹层结构中使用了闪光灯红外热成像检测技术对网格面板蜂窝夹层结构进行了检测。测试结果表明红外热成像检测技术能够有效地发现网格面板蜂窝夹芯结构中的脱
8、黏缺陷。由于基板结构比较特殊,纤维束含胶量不均匀以及网格致密性不一致会影响检测图像。如果只是单纯的从温度差异上判断是否存在脱黏容易产生误判。本文研究脱黏缺陷的特征,排除含胶量不均匀以及网格致密性不一致造成的干扰,从而减少误判。1 锁相红外热成像技术锁相红外热成像检测技术是20世纪末发展起来的新型数字化无损检测技术,该技术是将红外热成像技术同数字锁相技术相结合,采用强度按正弦规律变化的外激励源对试件进行激励。激励源激励后在试件表面引起的温度变化也为正弦规律变化,温度震荡变化的频率同激励源激励的频率一致8-9。温度的幅值、相位与材料特性有关,当材料内部存在缺陷(结构不连续)时,因不连续界面的两侧材
9、料的热导率、比热容、密度不同,导致温度在材料连续处和不连续处的热扩散系数不同,引起对应表面温度的幅值、相位存在差异。因此可以通过计算材料表面温度变化的相位图和幅值图判断内部缺陷特征10-11。锁相红外热成像检测系统示意如图2所示。锁相算法采用的是双路数字锁相相关处理算法,该算法利用噪声信号与参考信号不相关的原理,提取特定频率信号,针对周期信号,能够抑制噪声和其他直流分量。同相相关函数为式(1),正交相关函数为式(2),如下所示。c(t)0=cos 2ft(1)s(t)0=sin 2ft(2)使用同相相关函数和正交相关函数分别与采集到的热波信号序列运算得到式(3)和式(4)。U01=1Nn=1N
10、U()n c(n)0=Us2cos(3)U02=1Nn=1NU()n s(n)0=Us2sin(4)求解式(3)和式(4)得到:=arctanU02U01(5)Us=2U012+U022(6)式(1)-式(6)中,f为激励源的激励频率,U为系统采集到的热波信号序列,为所求的相位,Us为所求的幅值12。2 对比试块的制作为了验证锁相红外热成像技术对太阳电池阵基板中脱黏缺陷的检测能力,通常需要制作对比试块。设计的薄膜脱黏缺陷对比试块示意图如图 3所示。其中第一行为铣去碳纤维网格,第二行为涂脱模剂,第三、四行的第一第二列为夹一层聚四氟乙烯薄膜,第三、四行的第三第四列为夹两层聚四氟乙烯薄膜。对比试块实
11、物如图4所示。图3薄膜脱黏示意图Fig.3Schematic diagram of film debonding图2锁相红外热成像检测系统示意图Fig.2Schematic diagram of phase-locked infrared thermal imaging detection system 图4薄膜脱黏对比试块Fig.4The reference block of film debonding 94宇航材料工艺 http:/ 2024年 第1期碳纤维网格节点之间的脱黏则采用手术刀片将节点挑开的方式制作,如图5所示。3 薄膜脱黏试块的检测试验所使用的锁相红外热成像自动检测系统的热像
12、仪为非制冷型,其工作波段为714 m,使用320个LED灯珠作为热激励源,总功率为1 600 W,采集帧频为30 Hz,图像分辨率为640512。通过实验发现,在锁相频率为0.751 Hz,锁相周期个数为3时,所检测的图像质量已经能够满足产品中脱黏缺陷的判断要求。采用上述参数使用锁相红外热成像设备对薄膜脱黏试块进行检测,得到的振幅图和相位图分别如图6和图7所示。从图6和图7中可以发现,振幅图和相位图对缺少碳纤维网格和夹层缺陷都有较高的检测灵敏度,但是对于涂脱模剂模拟脱黏缺陷,振幅图检测效果明显不如相位图。然而实际产品中所出现的脱黏缺陷类型往往和涂脱模剂模拟的脱黏缺陷类似,而不会有另外两种缺陷,
13、因此对于薄膜脱黏缺陷只能采用相位法对其进行检测。因薄膜脱黏,导致脱黏处的热扩散系数明显区别于黏接良好处,产生明显的相位变化,导致相位图上的碳纤维网格显示不连续。因此可以通过观察相位图中碳纤维网格是否连续来判是否存在薄膜脱黏。4 薄膜脱黏的自动筛选通过上述分析可以发现,当黏接良好时,碳纤维网格连续,每个网格孔都有明显的边界线。当存在脱黏时,由于碳纤维网格的不连续,导致网格孔的边界扩大,横跨了至少2个网格孔,其轮廓面积也将至少扩大2倍。因此能够通过图像处理对检测到的图像进行轮廓查找,并根据轮廓面积是否大于等于2倍的单个网格孔轮廓面积来判断是否存在脱黏。查找的流程是先将原始图像进行二值化,再根据二值
14、化结果使用opencv的轮廓查找函数查找轮廓,并将轮廓绘制在原始图像中。图7的二值化结果和轮廓查找结果分别如图8和图9所示。通过计算得知正常区域网格孔眼轮廓边长为10像素的正方形,其面积为100像素。如果存在脱黏其轮廓像素面积最小为200像素,轮廓长度方向最小为20像素。通过这两个条件对查找到的轮廓进行筛选得到的结果如图10所示,已经实现了对脱黏缺陷的筛选。图8图7的二值化Fig.8Binary of Fig.7图9图7的轮廓查找结果Fig.9Contour search results of Fig.7图6薄膜脱黏振幅图Fig.6The amplitude diagram of film d
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