产品可靠性试验标准.doc

MiCO 迈高电器（集团）有限公司 MICO ELECTRIC LIMITED版本/版次A0页码/页数10 OF10 文件编号:WI-QA-15产品可靠性实验标准发布日期实施日期DCN NO.版本修订日期修 订 内 容 简 述修订人审核人批准人文 件 修 改 履 历（ 自 下 向 上 填 写 ）拟 订审 核批 准日 期日 期日 期 1、目的为产品之可靠性实验提供作业依据。2、适用范围凡公司产品之可告性实验均适用之。3、定义3.1 MTBF：Mean Time Between Failures平均故障间隙时间或平均寿命。3.2成品：公司出货状态之产品。3.3 关联性故障：指受试样品预期会出现，如必须经维修才能排除之故障，通常为产品本身引起，它是在解释实难结果和计算可靠性特征时，必须要计入的。3.4 非关联性故障：指受试样品非预期出现且不是受试样品本身引起的故障。如：误用故障、从属性故障等。它是在解释实验结果和计算可靠性特征时不需计入的，但需在实验报告中记录，以作参考。4、职责4.1品质部QE：可靠性实验之执行，实验结果之反馈以及异常之追踪。4.2工程部：可靠性实验异常之分析和改善。5、作业内容5.1 可靠性实验之种类：可靠性实验按其实验目的不同包含：5.1.1环境实验5.1.1.1恒温老化实验； （动态储存）5.1.1.2高温负荷实验； （动态储存）5.1.1.3恒定湿热实验； （静态储存）5.1.1.4高温高湿高压贮存实验； （静态储存）5.1.1.6低温负荷实验； （动态储存）5.1.1.7高低温循环贮存实验； （静态储存）5.1.1.8MTBF实验 （动态储存）5.2 恒温老化实验 根据部分特殊客户要求而做5.2.1实验目的验证产品在接近常温的恒温下之品质状况能符合客户要求。5.2.2样品抽样5.2.2.1每一产品试作时需随机抽取20-100PCS，经检验合格（未包装）之成品进行实验。5.2.3实验条件及方法5.2.3.1实验温度：（352）5.2.3.2实验时间：48h5.2.3.3实验负荷：Play DVD（厚碟）MP35.2.3.4实验方法：在35恒温下，循环播放DVD厚碟，MP3碟48小时，中途和试验后检查产品声音、动能、图像是否合符客户要求。5.3 高温负荷实验（动态、储放）5.3.1实验目的验证产品在高温环境下之品质状况能符合客户需求。5.3.2样品抽样5.3.2.1每一产品试作时需随机抽取8PCS，经检验合格（未包装）之成品进行实验；5.3.2.2对于批量生产之产品，每天需随机抽取16PCS，经检验合格之（未包装）之成品进行实验。5.3.3 实验条件5.3.3.1实验温度：（402）5.3.3.2实验时间：8小时5.3.3.3实验负荷：Play DVD Disc5.4 恒温湿热实验（静态、储放）5.4.1实验目的验证产品在经高温高湿之恶劣环境下储放后，其品质状况能符合客户需求。5.4.2样品抽取5.2.2.1在产品试作时需随机抽取2-4PCS，经检验合格（未包装）之成品进行实验。5.4.3实验条件5.4.3.1实验温度：（402）5.4.3.2实验时间：48小时5.4.3.3实验湿度：93%2%5.4.4实验结果记录于产品环境实验报告（表单号：WI-QA-006-001）中5.5 高温高湿高压贮存实验（静态储放）注：根据部分特殊客户要求而做5.5.1实验目的验证产品在高温高湿高压环境下之品质状况状况能符合客户要求。5.5.2样品抽样5.5.2.1每一产品试作时需随机3台，经检验合格（含包装）之成品进行实验。5.5.3实验条件及方法5.5.3.1实验温度：（452）5.5.3.2实验湿度：60%2%5.5.3.3实验时间：48小时5.5.3.1实验方法：选两块平板与DVD整机包材大小一致，然后将65.1kg的锡条重量压在3台包装OK的整机上，在45、60%条件下贮存48小时后，检查外观、功能应符合客户要求。5.6 低温负荷实验（动态、储放）5.6.1实验目的验证产品在低温环境下之品质状况能符合客户需求5.6.2样品抽样5.6.2.1每一产品试作时需随机抽取8PCS，经检验合格（未包装）之成品进行实验。5.6.2.2对于批量生产之产品，每天需随机抽取8PCS，经检验合格（未包装）之成品进行实验。5.6.3实验条件5.6.3.1实验温度：(01) 量产 (-51) 试产或研发、工程样机5.6.3.2实验时间：2小时5.6.3.3实验负荷：Play DVD Disc5.6.4实验结果必须记录于产品环境实验报告（表单号：WI-QA-006-001附件一）中5.7高低温循环贮存实验（静态储放）注：根据部分特殊客户要求而做5.7.1实验目的验证产品在高低温循环变化环境下之品质状况能符合客户需求。5.7.2样品抽样每一产品试作时需随机抽取2-8PCS，经检验合格（未包装）之成品进行实验。5.7.3实验条件及方法5.7.3.1实验温度：-25至60 25.7.3.2实验时间：50h5.7.3.3实验方法：先降温至-25，贮存运行3.5h，此时DVD整机处于不通电贮存状态，然后升温至60，贮存3.5h，（注：升温降温过程的时间不包括在内）以上循环4次，然后检查整机的外观、结构、功能是否符合客户需求。5.8扫频振动实验5.8.1实验目的验证产品在经过运输等振动后，产品之性能均能满足客户需要。5.8.2样品抽样5.8.2.1在产品试作时需随机抽取4-8PCS，经检验合格且已包装之成品进行实验；5.8.2.2对于批量生产之产品，每天需随机抽取2PCS，经检验合格且已包装之成品进行实验。5.8.3实验条件频率范围（HZ）位移幅值（MM）每一轴线上扫频循环次数要求1030100.755工作位置在三个互相垂直的轴线上依次振动3055300.155以1oct/min的扫频速度，在某一频率范围内进行一次循环扫频的时间为：T=6.644Lg（F2/F1） 式中：T 时间、min F1 扫频下限频率（HZ）F2 扫频上限频率（HZ）5.8.4注意事项5.8.4.1实验时必须对产品予以适当防护，以避免刮撞伤产品。5.8.4.2实验时必须将产品固定好，以免在试验频率范围内产生共振。5.8.4.3实验之产品其总重量不得超过振动机之最大负荷。5.8.5实验结果记录于产品振动实验报告（表单号：WI-QA-006-002）中。5.9机械碰撞实验5.9.1实验目的 验证产品在经过搬运等碰撞后产品品质状况能符合客户要求。5.9.2样品抽取5.9.2.1在产品试作时需随机抽取4-8PCS，经检验合格且已包装之成品进行实验；5.9.2.2对于批量生产之产品，每天需随机抽取2PCS，经检验合格且已包装之成品进行实验。5.9.3实验条件5.9.3.1脉冲峰值加速度：100m/s25.9.3.2持续时间：16ms5.9.3.3碰撞次数：1000次5.9.4注意事项5.9.4.1实验时必须对产品予以适当防护，以避免刮撞伤产品。5.9.4.2实验时必须将产品固定好，以免在试验频率范围内产生共振。5.9.4.3实验之产品其总重量不得超过振动机之最大负荷。5.9.5实验结果记录于产品碰撞实验报告（表单号：WI-QA-006-003）中。5.10自由跌落实验5.10.1实验目的 验证产品在经过跌落后之品质状况能符合客户要求。5.10.2样品抽样5.10.2.1在产品试作时需随机抽取8PCS，经检验合格且已包装之成品进行实验； 5.10.2.2对于批量生产之产品，每天需随机抽取4PCS，经检验合格且已包装之成品进行实验.5.10.2.3实验条件 5.10.2.3.1跌落顺序：一棱三角六面5.10.2.3.2跌落次数：一棱三角六面各一次 5.10.2.3.3跌落高度： 样品重量（Kg）跌落高度（CM）量产跌落高度（CM）试产10100CM125CM102560CM80CM255045CM60CM5.10.3实验结果记录于产品跌落实验报告（表单号：WI-QA-006-004）中。5.11 MTBF试验方法5.11.1统计试验方案统计试验方案是用于确定产品是否满意规定的可靠性要求的统计方法.其依据是假设产品的失效分布符合指数分布规律.试验采用定时截尾试验方法,统计试验方案符合GB5080.7和本标准5.8条规定,见表4.定型鉴定采用方案1.SJ/T 107301997 表4 统计试验方案方案判断风险率%鉴别比Dm总试验时间T（1的倍数）样品数n台试验时间T0h判定标准（失效数）拒收（大于或等于）接收（小于或等于）12010366820167043301114408352202034320107532307174053833020253020750243050040375注：1=5000h5.11.2试验要求5.11.2.1老炼预处理:产品出厂前是否采用老炼预处理,可在产品标准中规定,若采用老炼预处理,则样品与其代表的该批产品的预处理时间、 预处理应力要完全相同，不得采取特殊的处理措施;5.11.2.2试验样品: 试验样品应从经验合格的产品中随机抽取,样品经检查应无外观,结构和功能等轻,重缺陷;5.11.2.3试验设备: 试验设备应能提供试验所要求的各种条件,试验室应具备排风、安全、报警和消防等措施;5.11.2.4试验条件： 5.11.2.4.1环境温度：（403）； 5.11.2.4.2相对温度：45%-75%； 5.11.2.4.3大气压：86kp-106 kp；5.11.2.4.4工作电压：交流110-220 22V，502Hz;直流3、6、9、12V，允差20%，纹波系数0.5%以下。5.11.3试验方法5.11.3.1将试验样品置于高温试验箱(或房间)内,当环境温度达到规定的条件时,给样品通电,开始计时;5.11.3.2样品通电工作5.5h,关机0.5h为一个工作周期,在工作周期之间试验可以中断;5.11.3.3在每个工用周期内应检查下列内容:5.11.3.3.1各种功能是否正常;5.11.3.3.2每四个周期应检查:5.11.3.3.3各种开关、按键、旋钮、插孔的作用是否正常；5.11.3.4试验时间计算 每台样品的试验时间至少应为所有样品平均试验时间的一半，当不能满足此要求时，则在出现失效时不用更换样品的方法，而用延长试验时间的办法，以保证满足总试验时间T；5.11.3.5在不能准确判定失效时间时，应取近两次检查记录时间的中间值作为失效发生的时间。在整个可靠性试验过程中，应按时详细如实地记录各项试验条件，随时记录试验过程中的异常状况和检查中发现的问题及发生的时间；5.11.3.6在发现故障时，应在高温室内复查，确定属于失效后，再从高温室内取出，对失效样品进行及时检查，分析失效原因。可对已正确分析原因的失效样品进行修复，但对未失效部位不得修整或更换元件；5.11.3.7在试验过程中允许对样品进行使用说明书规定的维护，但不能打开后盖、底盖进行调整。5.11.4失效判据及计算5.11.4.1失效判据 凡出现表7所列功能控制件和功能重缺陷均判为失效，当发现有致命缺陷时，应立即停止试验，并判合格。轻缺陷不算失效，但应记录和分析原因。5.11.4.2失效区分5.11.4.2.1独立失效：由于某一元器件或零部件的失效而引起整机失效。 5.11.4.2.2从属失效：由于某一失效或同一原因引起的其它失效。5.11.4.2失效数计算5.11.4.2.1独立失效和重失效的每个失效都应计入失效数；5.11.4.2.2从属失效不计入失效数；5.11.4.2.3试验中出现的失效在常温下能恢复，无论故障是否重复出现，一律判为失效。5.11.5指数分布假设的有效性试验 在试验结束、失效数r3时，应在作出可靠性试验结论前，按GB5080.6规定的方法对指数分布假设作出检验.若检验结果满足指数分布的假设,则要进一步分析、确定被拒绝的原因，采取有效措施改进后，再进行可靠性试验。5.11.6平均无故障时间的单侧区间估计 平均无故障时间(MTBF)的单侧区间估计值(L)表示MTBF的下限值，其计算公式如下: L= 2T X2(C,2r+2) 式中:C置信度，取C=1-(=0.1,C=0.9;=0.2,C=0.8); r失效总数； T总试验时间，h； X2X2分布的分位点，X2分布分位数见表表5 2（C，2r2）分布分位数表Cr01234567890.94.6057.77910.64513.36215.98718.54921.06423.54225.98928.4120.83.2195.9898.55811.03013.44215.81218.15120.46522.76025.0385.11.7实验过程中必须每天至少两次检查所有受试样品之品质状况，并将实验结果记录产品MTBF实验报告（表单号：WI-QA-006-005）中5.12.所有可靠性实验之产品，均必须于实验前后按标准检验其外观和功能，并于相应之实验报告中记录其检验结果。5.12.1所有经过环境实验和MTBF实验之产品均需予以明确标示并隔离放置。5.12.2所有可靠性实验项目，当客户有特殊要求时，按客户要求执行。5.12.3所有可靠性实验结束后，应由工程师以上（含）人员判定实验之结果。当在实验过程中有故障存在时，应分析故障类型是关联性故障或非关联性故障。6、参考文件6.1DVD视盘机行业自律通用规范 WL-QA-13 6.2GB2421电子电工产品基本环境实验规则 WL-QA-144、 附件7.1产品环境实验报告 WI-QA-15-01A7.2产品振动实验报告 WI-QA-15-02A7.3产品碰撞实验报告 WI-QA-15-03A7.4产品跌落实验报告 WI-QA-15-04A7.5产品环MTBF实验报告 WI-QA-15-05A资料文件版权为MICO所有，不得私自复印