红外测距专业系统设计光电专业系统设计.doc

本科生课程论文

论文题目
红外光电测距系统设计
课程名称
光电系统设计
学生姓名
谷幸东、郭晓龙、何志毅、胡健辉
学号
、10、11、12
所在学院
理学院
所在班级
电科1123班
指导老师
汤照

目 录

第一章 绪论 1
1.1 红外线概述 1
1.2 红外传感器分类 1
1.3 红外传感器应用 2
1.4 AT89C52单片机概述 3
1.5 MCP3001介绍 6
第二章 红外测距工作原理和基础结构 8
2.1 红外测距传感器介绍 8
2.2 红外线测距工作原理 8
2.4红外测距传感器接线 10
2.5 红外测距系统基础结构 10
第三章 红外测距硬件设计 11
3.1 红外测距实现构想 11
3.2 系统硬件结构电路图 12
3.3 各硬件电路设计 12
3.3.1 复位电路 12
3.3.2 时钟电路 13
3.3.3 A/D转换电路 14
3.3.4 LCD显示电路 14
第四章 红外测距软件设计 15
4.1 系统软件结构框图 15
4.2 软件程序设计 16
4.3 源代码 16
第五章 仿真测试 21
5.1系统软件调试仿真 21
第六章 PCB图及元器件清单 23
6.1 PCB图 23
6.2 元器件清单 23
第七章 课程设计任务分工及个人心得体会 24
7.1任务分工 24
7.2 设计心得体会 24

第一章 绪论
1.1 红外线概述
红外辐射俗称红外线，又称红外光，它是一个人眼看不见光线。但实际上它和其它任何光线一样，也是一个客观存在物质。任何物体，只要它湿度高于绝对零度，就有红外线向周围空间辐射。它波长介于可见光和微波之间。红外辐射物理本质是热辐射。物体温度越高，辐射出来红外线越多，红外辐射能量就越强。研究发觉，太阳光谱多种单色光热效应从紫色光到红色光是逐步增大，而且最大热效应出现在红外辐射频率范围内，所以大家又将红外辐射称为热辐射或热射线。
现在红外发射器件（红外发光二极管）发出是峰值波长0.88uM~0.94uM之间近红外光，红外接收器件（光敏二极管、光敏三极管）受光峰值波长为0.88uM~0.94uM之间，恰好和红外发光二极管光峰值波长相匹配。红外线在经过云雾等充满悬浮离子物质时不易发生散射，有较强穿透能力，还含有抗干扰能力强、易于产生、对环境影响小、不会干扰临近无线电设备特点，所以被广泛应用。
1.2 红外传感器分类
常见红外传感器可分为热传感器和光子传感器。
1）热传感器
热传感器是利用入射红外辐射引发传感器温度改变，进而使相关物理参数发生对应改变，经过测量相关物理参数改变来确定红外传感器所吸收红外辐射。热探测器关键优点是对应波段宽，能够在室温下工作，使用简单。不过，热传感器对应时间较长，灵敏度较低，通常见于低频调制场所。
热传感器关键类型有：热敏传感器型，热电偶型，高莱气动型和热释放电型四种。
2）光子传感器
光子传感器是利用一些半导体材料在入射光照射下，产生光子效应，使材料电学性质发生改变。经过测量电学性质改变，能够知道红外辐射强弱。利用光子效应所制成红外传感器。统称光子传感器。光子传感器关键特点灵敏度高，响应速度快，含有较高响应频率。但其通常须在低温下工作，探测波段较窄。
根据光子传感器工作原理，通常可分为内光电和外光电传感器两种，后者又分为光电导传感器、光生伏特传感器和光磁电传感器等三种。
1.3 红外传感器应用
红外技术是最近几十年中发展起来一门新兴技术。它已在科技、国防和工农业生产等领域取得广泛应用。
红外传感器应用关键表现在以下多个方面：
红外辐射计：用于辐射和光谱辐射测量。
1) 搜索和跟踪系统：用于搜索和跟踪红外目标，确定其空间位置并对其运动进行跟踪。
2) 热成像系统：能形成整个目标红外辐射分布图像。
3) 红外测距系统：实现物体间距离测量。
4) 通讯系统：红外线通信作为无线通信一个方法。
5) 混合系统：是指以上各类系统中两个或多个组合。
1.4 AT89C52单片机概述
AT89C52是美国Atmel企业生产低电压、高性能CMOS 8位单片机，片内含8KB可反复檫写程序存放器和12B随机存取数据存放器（RAM），器件采取Atmel企业高密度、非易失性存放技术生产，兼容标准MCS-51指令系统，片内配置通用8位中央处理器（CPU）和Flash存放单元，功效强大AT89C52单片机可灵活应用于多种控制领域。AT89C52单片机属于AT89C51单片机增强型，和Intel企业80C52在引脚排列、硬件组成、工作特点和指令系统等方面兼容。其关键工作特征是：
l 片内程序存放器内含8KBFlash程序存放器，可擦写寿命为1000次；
l 片内数据存放器内含256字节RAM；
l 含有32根可编程I/O口线；
l 含有3个可编程定时器；
l 中止系统是含有8个中止源、6个中止矢量、2个级优先权中止结构；
l 串行口是含有一个全双工可编程串行通信口；
l 含有一个数据指针DPTR；
l 低功耗工作模式有空闲模式和掉电模式；
l 含有可编程3级程序锁定位；
l AT89C52工作电源电压为5（1+0.2）V，且经典值为5V；
l AT89C52最高工作频率为24MHz
AT89C52各引脚功效：
·P0口：P0 口是一组8 位漏极开路型双向I/O 口， 也即地址/数据总线复用口。作为输出口用时，每位能吸收电流方法驱动8 个TTL逻辑门电路，对端口P0 写“1”时，可作为高阻抗输入端用。在访问外部数据存放器或程序存放器时，这组口线分时转换地址（低8 位）和数据总线复用，在访问期间激活内部上拉电阻。在Flash 编程时，P0 口接收指令字节，而在程序校验时，输出指令字节，校验时，要求外接上拉电阻。
　·P1口：P1是一个带内部上拉电阻8 位双向I/O 口， P1输出缓冲级可驱动（吸收或输出电流）4个TTL逻辑门电路。对端口写“1”，经过内部上拉电阻把端口拉到高电平，此时可作输入口。作输入口使用时，因为内部存在上拉
电阻，某个引脚被外部信号拉低时会输出一个电流(IIL)。和AT89C51不一样之处是，P1.0 和P1.1 还可分别作为定时/计数器2 外部计数输入（P1.0/T2）和输入（P1.1/T2EX），Flash 编程和程序校验期间，P1接收低8位地址。
　·P2口：P2是一个带有内部上拉电阻8 位双向I/O口，P2输出缓冲级可驱动（吸收或输出电流）4 个TTL 逻辑门电路。对端口P2 写“1”，经过内部上拉电阻把端口拉到高电平，此时可作输入口，作输入口使用时，因为内部存在上拉电阻，某个引脚被外部信号拉低时会输出一个电流(IIL)。在访问外部程序存放器或16 位地址外部数据存放器（比如实施MOVX @DPTR 指令）时，P2 口送出高8 位地址数据。在访问8 位地址外部数据存放器（如实施MOVX @RI 指令）时，P2 口输出P2 锁存器内容。Flash 编程或校验时，P2亦接收高位地址和部分控制信号。
　· P3 口：P3 口是一组带有内部上拉电阻8 位双向I/O 口。P3 口输出缓冲级可驱动（吸收或输出电流）4 个TTL 逻辑门电路。对P3 口写入“1”时，它们被内部上拉电阻拉高并可作为输入端口。此时，被外部拉低P3 口将用上拉电阻输出电流（IIL）。P3 口除了作为通常I/O 口线外，更关键用途是它第二功效，P3 口还接收部分用于Flash 闪速存放器编程和程序校验控制信号。
　·RST：复位输入。当振荡器工作时，RST引脚出现两个机器周期以上高电平将使单片机复位。
　·ALE/PROG： 当访问外部程序存放器或数据存放器时，ALE（地址锁存许可）输出脉冲用于锁存地址低8 位字节。通常情况下，ALE 仍以时钟振荡频率1/6 输出固定脉冲信号，所以它可对外输出时钟或用于定时目标。要注意是：每当访问外部数据存放器时将跳过一个ALE 脉冲。对Flash 存放器编程期间，该引脚还用于输入编程脉冲（PROG）。如有必需，可经过对特殊功效寄存器（SFR）区中8EH 单元D0 位置位，可严禁ALE 操作。该位置位后，只有一条
MOVX 和MOVC指令才能将ALE 激活。另外，该引脚会被微弱拉高，单片机实施外部程序时，应设置ALE 严禁位无效。
　·PSEN：程序储存许可（PSEN）输出是外部程序存放器读选通信号，当AT89C52 由外部程序存放器取指令（或数据）时，每个机器周期两次PSEN 有效，即输出两个脉冲。在此期间，当访问外部数据存放器，将跳过两次PSEN信号。
　·EA/VPP：外部访问许可。欲使CPU 仅访问外部程序存放器（地址为0000H—FFFFH），EA 端必需保持低电平（接地）。需注意是：假如加密位LB1 被编程，复位时内部会锁存EA端状态。如EA端为高电平（接Vcc端），CPU 则实施内部程序存放器中指令。Flash 存放器编程时，该引脚加上+12V 编程许可电源Vpp，当然这必需是该器件是使用12V 编程电压Vpp。
　·XTAL1：振荡器反相放大器及内部时钟发生器输入端。
　·XTAL2：振荡器反相放大器输出端。
1.5 MCP3001介绍
MiclodipMCP3001是款含有片上采样和保持电路10位逐次迫近型A/D转换器(ADC)，该器件提供个伪差分输入通道。指定差分非线性和积分非线性最大值为±1LSB:它使用符合SPl协议简单串行接口和器件通信。当初钟速率为28MHz时,该器件采样速率最大可为200ksps。McP3001器件匚作电压范围很宽，为2.7V-5.5V.低电流设计许可器件在经典待机电流仅为5nA和经典工作电流为400uA条件下工作。该器件以8引脚PDIP、MSOP、TSSOP和150mil SOC封装形式提供。
MCP3001特征：
l 10位分辨率
l ±1 LSB DNL（最大值）
l ±1 LSB INL（最大值）
l 片上采样和保持电路
l SPI串行接口（模式0.0和1.1）
l 单电源供电电压范围：2.7V~5.5V
l 5V时采样速度为200ksps
l 低功耗CMOS技术
l 8引脚PDIP、SOIC、MSOP和TSSOP封装应用
封装类型：

功效框图：

第二章 红外测距工作原理和基础结构
2.1 红外测距传感器介绍
红外测距传感是用红外线为介质测量系统，根据功效可分成五类：（1）辐射计，用于辐射和光谱测量；（2）搜索和跟踪系统，用于搜索和跟踪红外目标，确定其空间位置并对它运动进行跟踪；（3）热成像系统，可产生整个目标红外辐射分布图像；（4）红外测距和通信系统；（5）混合系统，是指以上各类系统中两个或多个组合。 按探测机理可分成为光子探测器和热探测器。红外传感技术已经在现代科技、国防和工农业等领域取得了广泛应用。
2.2 红外线测距工作原理
红外测距传感器利用红外信号碰到障碍物距离不一样反射强度也不一样原理，进行障碍物远近检测。红外测距传感器含有一对红外信号发射和接收二极管，发射管发射特定频率红外信号，接收管接收这种频率红外信号，当红外检测方向碰到障碍物时，红外信号反射回来被接收管接收，经过处理以后，经过数字传感器接口返回到单片机。利用是红外线传输时不扩散原理 ,因为红外线在穿越其它物质时折射率很小 ,所以长距离测距仪全部会考虑红外线 ,而红外线传输是需要时间 ,当红外线从测距仪发出碰到反射物被反射回来被接收到 ,再依据红外线从发出到被接收到时间及红外线传输速度就能够算出距离, 红外线工作原理：利用高频调制红外线在待测距离上往返产生相位移推算出光束度越时间△t，从而依据D＝C△t/2得到距离D。
红外传感器测距基础原理为发光管发出红外光，光敏接收管接收前方物体反射光，据此判定前方是否有障碍物。依据发射光强弱能够判定物体距离，它原理 是接收管接收光强随反射物体距离而改变，距离近则反射光强，距离远则反射光弱。
现在，使用较多一个传感器-红外光电开关，它发射频率通常为38 kHz左右，探测距离通常比较短，通常被用作近距离障碍目标识别。本系统采取即为此种传感器。
2.3 红外线测距特点
1） 远距离测量，在无反光板和反射率低情况下能测量较远距离；
2） 有同时输入端，可多个传感器同时测量；
3） 测量范围广，响应时间短；
4） 外形设计紧凑，易于安装，便于操作；
2.4红外测距传感器接线
本模块选择是由日本夏普企业研发型号为GP2Y0A21红外传感器。引脚图图所表示。此红外传感器一共有三个引脚，其中VCC（电源电压）为信号接入，接入电源电压为4.5-5.5V，单片机5V工作电压即可；GND为接地引脚，连接地线即可；Vout为模拟电压输出引脚，此引脚输出模拟电压值为0.4-2.4V，相对应距离范围是80-10㎝。此引脚需要接入单片机处理模块中多路A/D转换通道上任意一路上。

依据红外传感器电压和相对应距离测量值可知，夏普GP2Y0A21系列红外传感器输出曲线是非线性，且每个型号红外传感器输出曲线全部不相同。所以对所使用红外传感器矫正是必需要做，创建出一张实测输出曲线图，方便在实际测量过程中取得真实正确测量数据。
2.5 红外测距系统基础结构
红外测距系统关键有红外测距传感器模块（包含红外发射端和红外接收端两部分）、单片机处理模块、LCD显示模块三大部分组成。图所表示。
单片机
红外模块
A/D模块
电压距离公式
显示模块

第三章 红外测距硬件设计
3.1 红外测距实现构想
为了实现红外测距，在硬件设计中，我们使用红外测距传感器，它含有一对红外信号发射和接收二极管，发射管发射特定频率红外信号，接收管接收这种频率红外信号，当红外检测方向碰到障碍物时，红外信号反射回来被接收管接收，经过处理以后，经过数字传感器接口经过A/D转换电路。将输入单片机模拟电压信号Vout转换为单片机可识别数字信号，并经过电压距离转换程序，转换出要测量距离，最终在经过液晶显示器LCD1602显示出测量结果。
3.2 系统硬件结构电路图
整个红外测距系统由AT89C52芯片、红外测距传感器、A/D转换电路和LCD显示器等组成。硬件结构电路图图所表示：

单片机AT89C52左端分别接了开关、时钟电路和复位电路，这是单片机最小系统。XTAL1和XTAL2串连一个晶振，而且分别接上一个20p电容，两个电容另一端全部接地，组成时钟电路。
单片机AT89C52右端P0端同时接LEDD1-D7端口和排阻，P2.0接CLK，P2.1接DO，P2.2接CS，P2.5接E，P2.6接RW，P2.7接RS。
MCP3001VREF接vcc，IN+接红外距离传感器Vo。
3.3 各硬件电路设计
3.3.1 复位电路
单片机小系统常采取上电自动复位和手动按键复位两种方法实现系统复位操作。上电复位要求接通电源后，自动实现复位操作。手动复位要求在电源接通条件下，在单片机运行期间，用按钮开关操作使单片机复位。其结构以下图。上电自动复位经过电容C3充电来实现。

3.3.2 时钟电路
单片机内部含有一个高增益反相放大器，用于组成振荡器。通常在引脚XTALl和XTAL2跨接石英晶体和两个赔偿电容组成自激振荡器，结构图中X1、C1、C2。能够依据情况选择6MHz、12MHz或24MHz等频率石英晶体，赔偿电容通常选择20pF左右瓷片电容。

3.3.3 A/D转换电路
A/D转换电路图所表示

3.3.4 LCD显示电路

LCD和单片机接口电路图所表示，单片机经过P0口向LCD输送数据，显示测得距离。值得注意是，P0口要接上拉电阻来确保对LCD成功驱动。

第四章 红外测距软件设计
4.1 系统软件结构框图
在整个系统运行过程中。当红外系统被开启后，首先，对AT89C52单片机进行初始化。然后，当AT89C52单片机接收到红外接收电路传输电压信号后，经A/D转换程序，将片外模拟信号转换为单片机可识别数字信号，并经电压—距离转换子程序，将改变电压转换为距离。最终，在动态扫描LCD显示器上显示出来。

4.2 软件程序设计
红外测距系统软件程序关键由主程序、A/D转换程序、延时函数、LCD显示程序等等，在红外测距系统硬件已经确定情况下，程序设计步骤为：
1）分析红外测距系统功效，对已知条件及运算控制要求进行掌握，正确地编写出能完成要求任务程序。
2）确定所需要函数及算法，依据系统设计要求及功效特点，选择对应处理方法。
3）设计系统工作步骤图，采取直观方法清楚地表示出程序整体设计思想。
4）依据系统工作步骤图编写源程序，对主函数及子函数功效进行逐一分析，并写出对应程序。
5）调试源程序，将编好程序经过编译去除语法及功效上错误，然后将程序烧入单片机中以达成最终要求。

4.3 源代码

#include <reg51.h>
#include <intrins.h>
#define uchar unsigned char
#define uint unsigned int
#define ulong unsigned long
sbit RS=P2^0; //LCD命令/数据端
sbit RW=P2^1; //LCD读/写端
sbit LCDE=P2^2; //LCD使能端
sbit MCP_CS=P2^3; //MCP3001和AT89S52管脚接线定义
sbit MCP_DO=P2^4;
sbit MCP_CLK=P2^5;
uint measure;
uchar flag; //Busy标志
uchar code dis[]={"Measure Start"}; //显示
uchar code dis1[] = {"V= . V,L= CM"};
uchar code dis2[] = {"."}; //显示代码
uchar code dis3[]={"Out Measure!"}; //显示
uchar dis_buf[8]; //显示缓冲区
void L_delay(void); //短延时
void delay_ms(uint n); //延时函数
uint read_MCP(void); //读MCP3001
void init_1602(void); //1602初始化函数
void busy(void); //LCD忙标志判定函数
void dat_wrt(uchar dat); //写数据子函数
void cmd_wrt(uchar cmd); //写命令子函数
uint distance(void); //距离计算函数
void lcd_start(uchar start); //设定显示位置函数
void LCD_Clear(void); //LCD清屏函数
uchar dat_adj(uint dat1); //显示数据调整函数
void print(uchar *str); //字符串显示函数
void disp(uint dat); //显示子函数
uint average(void); //算术平均滤波程序

/****************************主函数*******************************/
main()
{
init_1602();
print(dis); //显示测量开始
delay_ms(1000);
while(1)
{
measure=distance();
disp(measure); //显示高度
delay_ms(100);
}
}
/**************************延时函数**************************/
void delay_ms(uint n)
{
uint j;
while(n--)
for(j=0;j<125;j++);
}
/***************************短延时****************************/
void L_delay(void)
{
uchar i;
for(i=0;i<5;i++)_nop_();
}
/************************读MCP3001函数*************************/
uint read_MCP(void) ///////////////////// read_MCP 采集数据并转换后值 //////////////////////
{
uchar i;
uint temp=0;
MCP_CS=1;
L_delay();
MCP_CS=0; //CS置低，开始采样数据
for(i=0;i<13;i++) //读转换10位数据
{
MCP_CLK=0;
L_delay();
MCP_CLK=1;
temp<<=1;
if(MCP_DO==1)temp|=0x01;
}
MCP_CS=1;
temp&=0x03ff; //获取有效转换值
return(temp);
}
/************************LCD忙标志判定函数*******************/
void busy(void)
{
flag=0x80; //赋初值 高位为1 严禁
while (flag&0x80) //读写操作使能位严禁时等候 继续检测
{
P0=0xff;
RS=0; //指向地址计数器
RW=1; //读
LCDE=1; //信号下降沿有效
flag=P0; //读状态位元 高位为状态
LCDE=0;
}
}
/************************写数据子函数************************/
void dat_wrt(uchar dat)
{
busy(); //检测 读写操作使能吗
LCDE=0;
RS=1; //指向数据寄存器
RW=0; //写
P0=dat; //写数据
LCDE=1; //高电平有效
LCDE=0;
}
/*************************写命令子函数************************/
void cmd_wrt(uchar cmd)
{
LCDE=0;
busy(); //检测 读写操作使能吗
P0=cmd; //命令
RS=0; //指向命令计数器
RW=0; //写
LCDE=1; //高电平有效
LCDE=0;
}
/***********************距离计算函数***************************/
uint distance(void)
{
uint temp1;
temp1=average(); ///////////////////////////////// temp1 平均数据转换距离 //////////////////////////////
if((temp1>60)&(temp1<960)) //在正常测量范围？
{
temp1=13569/(temp1+7)-4; //转换测量数据
}
else
{
temp1=0x00ff; //超出测量范围，返回错误标志
}
return(temp1);
}
/************************算术平均滤波程序**********************/
uint average(void)
{
uchar i;
uint av_dat; ///////////////////////////// av_dat 平均数据 ////////////////////////////////////////
ulong ave=0;
for(i=0;i<10;i++) //连续读取10个数据值
{
ave+=read_MCP(); //读转换数据
L_delay();
}
av_dat=(uint)(ave/10); //求平均值
return(av_dat);
}
/*************************1602初始化函数************************/
void init_1602(void)
{
cmd_wrt(0x01); //清屏
cmd_wrt(0x0c); //开显示，不显示游标，不闪烁
cmd_wrt(0x06); //完成一个字符码传送后，光标左移，显示不发生移位元
cmd_wrt(0x38); //16×2显示，5×7点阵，8位数据接口
}
/************************设定显示位置函数************************/
void lcd_start(uchar start)
{
cmd_wrt(start|0x80);
}
/************************LCD清屏函数****************************/
void LCD_Clear(void)
{
cmd_wrt(0x01); //写入清屏指令
delay_ms(1);
}
/************************显示数据调整函数************************/
uchar dat_adj(uint dat1) ///////////////////////////////// dat1 L距离 ////////////////////////////////////////
{
uchar i=0;
uint date;
date=average()/2;
dis_buf[0]=(uchar)(dat1/100); //百位
dis_buf[1]=(uchar)(dat1%100/10); //十位
dis_buf[2]=(uchar)(dat1%100%10); //个位
dis_buf[3]= date/100 ;
dis_buf[4]= date%100/10;
dis_buf[5]= date%100%10;

if(dis_buf[0]==0)i=1;
return(i);
}
/**************************字符串显示函数**************************/
void print(uchar *str)
{
while(*str!='\0') //直到字符串结束
{
dat_wrt(*str);
str++; //指向下一个字符
}
}
/***************************显示子函数****************************/
void disp(uint dat)
{
uchar temp,j;
if(dat!=0x00ff)
{
temp=dat_adj(dat);
LCD_Clear();
lcd_start(0x40);
print(dis1);
lcd_start(0x42);
dat_wrt(dis2[dis_buf[3]]);
print(".");
for(j=4;j<6;j++)
dat_wrt(dis2[dis_buf[j]]); //显示文字
lcd_start(0x4B+temp); //确定显示起始位置
for(j=temp;j<3;j++) //写显示数据
dat_wrt(dis2[dis_buf[j]]);
}
else
{
LCD_Clear();
lcd_start(0x42+temp); //确定显示起始位置
print(dis3);
}
}

第五章 仿真测试
5.1系统软件调试仿真
ProteusISIS是一款Labcenter出品电路分析实物仿真系统，可仿真多种电路和IC，并支持单片机，元件库齐全，使用方便，能够给我们做电路设计提供方便快捷仿真效果，让我们事半功倍。
调试关键方法和技巧：通常一个调试程序应该含有最少四种性能：跟踪、断点、查看变量、更改数值。整个程序是一个主程序调用各个子程序实现功效过程，要使主程序和整个程序全部能平稳运行，各个模块子程序正确和平稳运行必不可少，所以在软件调试最初阶段就是把各个子程序模块进行分别调试。
在硬件电路制作完成并调试好后，便可将程序编译好下载到单片机试运行。
这里我们使用Proteus软件进行仿真，加载编译好.HEX文件到单片机后，点击运行按钮即可，仿真电路图以下：

第六章 PCB图及元器件清单
6.1 PCB图

6.2 元器件清单

第七章 课程设计任务分工及个人心得体会
7.1任务分工
11911309谷幸东----------------整体设计及论文撰写
11911310郭晓龙----------------用Proteus软件仿真测试
11911311何志毅----------------PCB线路板设计
11911312胡健辉----------------软件设计（代码编写）
7.2 设计心得体会
1）谷幸东
在为期一周单片机课程设计中，我在增加知识、提升能力同时，产生了很深感慨。从小组内部初步定下方案到明确分工，从不停运行排错到调试成功，在整个设计过程中，着实受益匪浅，不仅能够巩固以前所学过知识，而且学到了很多在书本上所没有学到过东西。在做此次课程设计过程中，我感慨最深当属查阅大量设计资料了。为了让我们小组设计愈加完善，查阅这方面设计资料是十分必需，同时也是必不可少。
在设计过程中难免会碰到多种多样问题，不过在这重重困难之中我了解到自己真实水平，并努力提升自己。同时我明白，对于想要成功人来说更关键不是知识或技能，而是克服困难信心。实践证实看似“莫名其妙”错误只要坚持尝试肯定有措施处理，应灵活地从各方面找原所以不是一味归咎于试验仪器或软件平台。
经过这次课程设计作品制作让我对单片机理论有了愈加深入了解，同时在具体制作过程中我们发觉现在书本上知识和实际应用存在着不小差距，书本上知识很多全部是理想化后结论，忽略了很多实际原因，或包含不全方面，可在实际应用时这些是不能被忽略，我们不得不考虑这方问题，这让我们无法依据书上理论就轻易得到预想中结果，有时结果甚至很差异很大。经过这次设计，我基础掌握了怎样利用protues进行仿真，利用keil生成hex文件，怎样画PCB图等等。经过开发板设计和硬件搭建过程，使我对51系单片机接口有了更深层次了解，熟悉了部分单片机常见外围电路引脚和连接方法。我熟悉了51系列单片机内部寄存器和编程规则，和怎样控制外围电路。另外，在此次课程设计过程中，我们深刻体会到了团体合作关键性，只有一个团体齐心协力，每个组员各司其职才能够把工作做好。
我知道了理论和实际相结合是很关键，眼高手低现象常常难以避免。只有把所学理论知识和实践相结合起来，从理论中得出结论，才能提升自己实际动手能力和独立思索能力。

2） 郭晓龙

3） 何志毅
在之前学习当中我们学习只是学习理论知识，以前我认为学习理论知识就能够很好做试验，我发觉这个想法是错误。现在要进行实际操作时候我发觉自己很多东西全部不认识，所以碰到困难也尤其多。这些困难我们全部要自己克服，实在不轻易。
然后自己在做试验过程中，我们不只是验证了在课堂上所学理论知识原理和结果，还提升了自己实际动手能力、思维能力和分析和处理问题综合能力。因为，在试验过程中影响试验现象原因有很多，出现试验误差原因也很多，这就造成了前前后后改了差不多20张图。只要有一步错了，几乎就得重新思索，困难可想而知。我在我试验小组当中我是负责画图，为了这次画图我之前完全没有了解过，所以为了这次试验，我特意学习altium designer软件使用方法。一直在探索当中前行，一步一步走来不轻易啊。
最终在自己努力和同学帮助下我最终完成了试验设计和画图，心情真一下愉悦了起来，感觉就是完成一件之前认为不可能完成任务一样。在试验当中我学习到了自己处理问题能力和理论知识和实际应用相结合关键性。

4） 胡健辉
经过今次实训，使我对单片机认识有了更深刻了解。系统以51单片机为关键部件，利用软件编程，经过键盘控制和数码管显示实现了基础功效，能实现本设计题目标基础要求和发挥部分。
因为时间有限和本身知识水平限制，本系统还存在部分不够完善地方，要作为实际应用还有部分具体细节问题需要处理。当看着自己程序，自己整天相伴系统能够健康运行，真是莫大幸福和欣慰。我相信其中酸甜苦辣最终全部会化为甜美甘泉。但在这次实训中同时使我对光电系统有了更深认识。当我第一次接触光电系统就感觉极难，尤其是今次实训要用到光电系统，尽管困难重重，可我们还是克服了。这次实训使培养了我们严厉认真做事作风，增强了我们之间团体合作能力，使我们认识到了团体合作精神关键性。
这次实训经历也会使我终生受益，我感受到这次实训是要真真正正用心去做一件事情，是真正自己学习过程和研究过程，没有学习就不可能有研究能力，没有自己研究，就不会有所突破。期望这次经历能让我在以后学习中激励我继续进步。