数字逻辑试验参考指导书.doc
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实验一 实验箱及小规模集成电路使用 一 实验目 1 掌握实验箱功能及用法 2 学会测试芯片逻辑功能 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六非门 1片 三 实验内容 1 测试芯片74LS00和74LS86逻辑功能并完毕下列表格。 (1) 74LS0014脚接+5V电源,7脚接地;1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关,3、6、8、11接发光二极管。(可以将1、4、9、12接到一种逻辑开关上,2、5、10、13接到一种逻辑开关上。)变化输入状态,观测发光二极管。74LS86接法74LS00基本同样。 表1.1 74LS00功能测试 输入 输入 输出 1、4、9、12 2、5、10、13 3 6 8 11 0 0 0 1 1 0 1 1 表1.2 74LS86功能测试 输入 输入 输出 1、4、9、12 2、5、10、13 3 6 8 11 0 0 0 1 1 0 1 1 (2)分析74LS00和74LS86四个门与否都是完好。 2 用74LS00和74LS04构成异或门,规定画出逻辑图,列出异或关系真值表。 & 1 2 3 & 4 5 6 GND 7 & 10 9 8 & 13 12 11 14 Vcc 74LS00 =1 1 2 3 =1 4 5 6 GND 7 =1 10 9 8 =1 13 12 11 14 Vcc 74LS86 GND 7 Vcc 14 74LS04 4 3 1 6 5 1 2 1 1 12 13 1 10 11 1 8 9 1 (3)运用74LS00和74LS04设计一种异或门。画出设计电路图。 实验二 译码器和数据选取器 一 实验目 1继续熟悉实验箱功能及用法 2掌握译码器和数据选取器逻辑功能 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS138 3线-8线译码器 1片 74LS151 八选一数据选取器 1片 74LS20 四输入与非门 1片 三 实验内容 1 译码器功能测试(74LS138) 芯片管脚图如图2.1所示,按照表2.1连接电路,并完毕表格。其中16脚接+5V,8脚接地,1~6脚都接逻辑开关,7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。 表2.1 输入 输出 使能端 选取端 A2 A1 A0 × 1 1 × × × 1 1 1 1 1 1 1 1 0 × × × × × 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 1 1 2 数据选取器测试(74LS151) 按照表2.2连接电路,并完毕表格。其中16脚接+5V,8脚接地;9、10、11,为地址输入端,接逻辑开关;4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端,接逻辑开关;为选通输入端,Y为输出端,接发光二极管。 表2.2 选通端 地址输入端 数据输入端 输出 A2 A1 A0 D0 D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7 Y 1 × × × × × × × × × × × 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 0 1 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 3 分别用74LS138(配合74LS20)和74LS151实现逻辑函数,规定画出逻辑图。 GND 8 16 Vcc 74LS151 1 D3 2 D2 3 D2 4 D0 5 Y 7 G 15 D4 14 D5 13 D6 12 D7 11 A0 6 Y 10 A1 9 A2 GND 8 16 Vcc 74LS138 1 A0 2 A1 3 A2 4 S2 5 S3 7 Y7 15 Y0 14 Y1 13 Y2 6 12 Y3 11 Y4 6 S1 10 Y5 9 Y6 实验三 加法器和中规模集成电路改造 一 实验目 1掌握半加器和全加器功能测试 2掌握中规模集成电路功能改造。 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS151 八选一数据选取器 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片 三 实验内容 1 测试用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)构成半加器逻辑功能 (1)按照图3.1进行连线,其中A、B接电平开关,Y、Z接发光二极管。 (2)按表规定变化A、B状态,填表。 3 2 1 =1 3 2 1 & 6 5 4 & A B Y Z 图 3.1 表3.1 输入端 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 输出端 Y Z 2 测试全加器逻辑功能 (1)用异或门74LS86、与或非门74LS54、与非门74LS00构成全加器,按图3.2接线,其中A、B、CI接电平开关,S、CO接发光二极管,74LS543、4、5、9、10、11均接地。 (2)按表规定变化A、B、CI状态,并填表。 1 3 2 1 =1 6 5 4 =1 & ≥1 3 2 1 & 2 12 13 A B CI S CO 图3.2 表3.2 A B CI CO S 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 3 测试如下电路逻辑功能,规定写出真值表,得出逻辑表达式并化为最简与或式。 =1 1 2 3 =1 4 5 6 GND 7 =1 10 9 8 =1 13 12 11 14 Vcc 74LS86 & 1 2 3 & 4 5 6 GND 7 & 10 9 8 & 13 12 11 14 Vcc 74LS00 GND 8 16 Vcc 74LS151 1 D3 2 D2 3 D2 4 D0 5 Y 7 G 15 D4 14 D5 13 D6 12 D7 11 A0 6 Y 10 A1 9 A2 GND 7 14 Vcc 74LS54 1 A 2 B 3 C 4 D 5 E 6 Y 13 J 12 I 11 H 10 G 9 F 8 74LS54逻辑表达式: 实验四 中规模集成电路改造 一 实验目 掌握中规模集成电路功能改造。 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片: 74LS151 八选一数据选取器 1片 74LS04 六非门 1片 三 实验内容 1 用74LS151和74LS04实现逻辑函数,并画出逻辑图 GND 8 16 Vcc 74LS151 1 D3 2 D2 3 D2 4 D0 5 Y 7 G 15 D4 14 D5 13 D6 12 D7 11 A0 6 Y 10 A1 9 A2 GND 7 14 Vcc 74LS04 1 13 12 1 1 2 1 3 4 1 5 6 1 111 10 1 9 8 实验五 触发器及示波器使用 一 实验目 1 熟悉并掌握D,J-K触发器构成工作原理和功能测试办法。 2 学会对的使用触发器集成芯片。 二 实验仪器及芯片 1 双踪示波器 2 器件: 74LS74 双D触发器 一片 74LS76 双JK触发器 一片 三 实验内容 边沿触发器测试 1在实验箱上将D触发器连接成T’触发器 2 用示波器CH1通道显示时钟CP信号;用CH1通道显示触发器输出信号Q,观测Q变化发生在CP什么状态? 3 把D触发器换成JK触发器,并连接成T’触发器,运用示波器观测Q与CP关系 4 绘制时序图 5 规定画出D和JK触发器改导致T’触发器连接图。 74LS74 2 1D 3 1CP 5 1Q GND 7 14 Vcc 12 2D 11 2CP 9 2Q 8 2Q 13 2RD 10 2SD 6 1Q 1 1RD 4 1SD 74LS76 1 1CP 4 1J 5 Vcc 15 1Q 16 1K 13 GND 12 2K 11 2Q 9 2J 2 1SD 6 2CP 3 1RD 7 2SD 8 2RD 10 2Q 14 1Q CP Rd Sd Q Q J K 图5.2 JK触发器逻辑符号 Rd Sd Q Q D CP 图5.1 D触发器逻辑符号 实验六 集成移位寄存器 一 实验目 掌握集成双向移位寄存器74LS194逻辑功能。 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS194 双向移位寄存器 1片 三 实验内容 1 并行输入-并行输出寄存器逻辑功能测试。 ~接逻辑电平开关,~接发光二极管,CP接按键脉冲。74LS194状态功能如表6.1。按照表6.2规定进行输入,观测输出~,并在表中记录成果。 74LS194 1 CR 4 D1 5 D2 15 Q0 16 Vcc 13 Q2 12 Q3 11 CP 9 S0 2 SR 6 D3 3 D0 7 SL 8 GND 10 S1 14 Q1 图6.1 74LS194管脚图 表6.1 S1 S0 工作状态 0 × × 置零 1 0 0 保持 1 0 1 右移 1 1 0 左移 1 1 1 并行输入 2 右移逻辑功能测试 按照表6.2规定进行输入,观测输出~,并在表中记录成果。 3左移逻辑功能测试 按照表6.3规定进行输入,观测输出~,并在表中记录成果。 表6.2 并行输入-输出功能测试 输 入 输 出 CP S1 S0 D0 D1 D2 D3 Q0 Q1 Q2 Q3 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 0 0 表6.3 右移功能测试 输 入 输 出 CP S1 S0 SR D0 D1 D2 D3 Q0 Q1 Q2 Q3 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 1 1 0 0 表6.4 左移功能测试 输 入 输 出 CP S1 S0 D0 D1 D2 D3 SL Q0 Q1 Q2 Q3 0 1 1 1 1 1 1 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 0 4用74LS194和74LS04实现扭环形计数器,画出逻辑图和状态转换图。 GND 7 14 Vcc 74LS04 1 13 12 1 1 2 1 3 4 1 5 6 1 111 10 1 9 8 实验七 集成计数器 一 实验目 1 掌握集成计数器74LS161逻辑功能。 2 熟悉74LS161管脚排列。 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片:74LS161 四位二进制计数器 一片 三 实验内容 1 并行预置输入 芯片管脚如图7.1所示。~接逻辑电平开关,~接发光二极管,CP接按键脉冲,接地,接高电平(+5V),P和T一起接高电平(+5V)。按照表7.2规定进行输入,观测输出~,并在表中记录成果。 74LS161 4 D1 5 D2 15 CO 16 Vcc 13 Q1 12 Q2 11 Q3 2 CP 6 D3 3 D0 7 P 8 GND 10 T 14 Q0 1 CR 9 LD 图7.1 74LS161管脚图 表7.1 74LS161功能表 CP P T 工作状态 0 × × × 置零 1 0 × × 预置数 1 1 1 1 计数 表7.2 计数器预置输入逻辑功能测试 输 入 输 出 CP D3 D2 D1 D0 Q3 Q2 Q1 Q0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 1 1 0 0 2 计数功能测试 ~接逻辑电平开关,~接发光二极管,CP接按键脉冲。规定计数器从1000开始计数,始终到1111。按照表规定进行输入,观测输出~,并在表7.3中记录成果。 表7.3 计数器计数逻辑功能测试 输 入 输 出 CP D3 D2 D1 D0 Q3 Q2 Q1 Q0 0 1 0 0 0 1 × × × × 1 × × × × 1 × × × × 1 × × × × 1 × × × × 1 × × × × 3 用预置法实现七进制计数器,规定分别用发光二极管和七段数码管显示。 使用74LS00和74LS161各一片,画出连线图。只需要画出原理图即可。 。 实验八 用555定期器构成多谐振荡器 一 实验目 1.掌握555定期器逻辑功能。 2.熟悉555定期器管脚排列。 二 实验仪器及芯片 1.实验箱 2.芯片:555定期器 一片 三 实验内容 1.用555定期器构成如图多谐振荡器电路(所标出电容、电阻为参照值)。调节R2阻值,用实验箱频率计测量频率f,再用示波器测量T、tW1、tW2.,用万用表测量R1、R2电阻值,计算占空比q,填入表中: f T tW1 tW2. R1 R2 C q 2.依照R1、R2、C值,用理论公式计算如下表中各项,并求与理论值相对误差: 参数 T tW1 tW2. 相对误差 计算公式 计算值展开阅读全文
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