数字逻辑试验参考指导书.doc
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1、实验一 实验箱及小规模集成电路使用一 实验目1 掌握实验箱功能及用法2 学会测试芯片逻辑功能二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS04 六非门 1片三 实验内容1 测试芯片74LS00和74LS86逻辑功能并完毕下列表格。 (1) 74LS0014脚接5V电源,7脚接地;1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关,3、6、8、11接发光二极管。(可以将1、4、9、12接到一种逻辑开关上,2、5、10、13接到一种逻辑开关上。)变化输入状态,观测发光二极管。74LS86接法74LS00基本同样。表1.1 74L
2、S00功能测试输入输入输出1、4、9、122、5、10、133681100011011表1.2 74LS86功能测试输入输入输出1、4、9、122、5、10、133681100011011(2)分析74LS00和74LS86四个门与否都是完好。 2 用74LS00和74LS04构成异或门,规定画出逻辑图,列出异或关系真值表。&123&456GND7&1098&13121114Vcc74LS0011231456GND711098113121114Vcc74LS86GND7Vcc1474LS044316512111213110111891(3)运用74LS00和74LS04设计一种异或门。画出设计
3、电路图。实验二 译码器和数据选取器一 实验目1继续熟悉实验箱功能及用法2掌握译码器和数据选取器逻辑功能二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS138 3线8线译码器 1片74LS151 八选一数据选取器 1片74LS20 四输入与非门 1片三 实验内容1 译码器功能测试(74LS138) 芯片管脚图如图2.1所示,按照表2.1连接电路,并完毕表格。其中16脚接5V,8脚接地,16脚都接逻辑开关,7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。表2.1输入输出使能端选取端A2A1A011111111110111111111000001000011000101000111001001
4、001011001101001112 数据选取器测试(74LS151)按照表2.2连接电路,并完毕表格。其中16脚接5V,8脚接地;9、10、11,为地址输入端,接逻辑开关;4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端,接逻辑开关;为选通输入端,Y为输出端,接发光二极管。 表2.2选通端地址输入端数据输入端输出A2A1A0D0D1D2D3D4D5D6D7Y10000000111110001111000000010111100000011101011110100010100000101110011000110110011100111111100003 分别用74LS138(配合74LS
5、20)和74LS151实现逻辑函数,规定画出逻辑图。GND816Vcc74LS1511D32D23D24D05Y7G15D414D513D612D711A06Y10A19A2GND816Vcc74LS1381A02A13A24S25S37Y715Y014Y113Y2612Y311Y46S110Y59Y6实验三 加法器和中规模集成电路改造一 实验目1掌握半加器和全加器功能测试2掌握中规模集成电路功能改造。二 实验仪器及芯片1 实验箱2 芯片:74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS151 八选一数据选取器 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS54 四组输入与或非门 1片三 实验
6、内容1 测试用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)构成半加器逻辑功能(1)按照图3.1进行连线,其中A、B接电平开关,Y、Z接发光二极管。(2)按表规定变化A、B状态,填表。321=1321&654&ABYZ图 3.1表3.1输入端A0011B0101输出端YZ2 测试全加器逻辑功能(1)用异或门74LS86、与或非门74LS54、与非门74LS00构成全加器,按图3.2接线,其中A、B、CI接电平开关,S、CO接发光二极管,74LS543、4、5、9、10、11均接地。(2)按表规定变化A、B、CI状态,并填表。1321=1654=1 & 1321&21213ABCISCO图3.2
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