硅片清洗工艺的详细分析模板.docx
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1、太阳能硅片清洗工艺1.药槽清洗液最好配比确定由以上试验数据分析, 在清洗剂浓度较低时,不能达成良好清洗效果, 切割过程中吸附到Si片表面砂浆等沾污仍然停留在 S i 片表面。提升清洗剂用量, 砂浆残留片数降低, 不过连续加大清洗剂用量, 又会造成新污染, 即清洗剂残留,和砂浆残留一样, 会影响 Si 片质量。所以选择其中效果最好配比为2.0L。2药槽清洗温度确实定药槽清洗温度设置和表面活性剂性质亲密相关,这是因为在低温时非离子表面活性剂和水完全混溶, 亲水基聚氧乙烯和水形成氢键能量低, 伴随温度升高分子热运动加剧氢键被破坏, 造成非离子表面活性剂在水中溶解度下降, 当温度升高而且达成一定值时,
2、 非离子表面活性剂从水溶液中析出变混浊, 此时温度即为浊点,温度对非离子表面活性剂去污能力影响是显著, 研究表明当温度靠近于浊点时, 清洗效果最好。经过试验得出40-55均可, 但45为最好。3.碱性清洗液和Si反应选择生产线连续进行清洗一个药槽,从新配清洗液开始每隔1 min测其 pH 值, 所得数据图。配置好准备清洗用碱性清洗液pH值在 1 21 3 , 碱性很强, Si片浸人清洗液后,表面会产生大量直径在0.5mm 左右气泡, 认为是Si和清洗液中大量存在-OH 发生以下反应:Si+4OH-(SiO4)4+2H2 反应连续进行, 过程测量药槽中清洗液pH值, 相比开始降低 0.1-0.3
3、,不过继续测量, pH值将保持在一定水平11. 5-1 2 左右不再继续下降,这是因为上步反应生成 (SiO4)4是不稳定, 它在水溶液中继续和水发生以下反应(SiO4)4+ 4H20Si(OH)4 + 4OH-在式(1)中消耗OH-得到补充,在反应达成平衡后, OH-基础保持不变,如此清洗液pH值能够保持在一定范围而不连续下降, 能够取得稳定清洗效果.4.表面沾污起源Si 片内部原子排列整齐有序,每个 Si原子4个价电子和周围原子价电子结合组成共价键结构。不过经过切割工序后, Si 片表面垂直切片方向共价键遭到破坏而成为悬空键,这种不饱和键处于不稳定状态, 含有能够俘获电子或其它原子能力,
4、以减低表面能, 达成稳定状态。当周围环境中原子或分子趋近晶片表面时, 受到表面原子吸引力, 轻易被拉到表面, 在Si晶片表面富集,形成吸附, 从而造成污染。理想表面实际是不存在, 实际 Si片表面通常包含三个薄层 : 加工应变层、氧化层和吸附层, 在这三层下面才是真正意义上晶体Si。对于太阳能用 Si片来说, 加工应变层是指在线切工艺时所产生应变区, 氧化层指新切出表面和大气接触造成氧化薄膜, 厚度在几纳米到几十纳米之间, 和留置在空气中时间相关, 这也是切割后Si 片假如不能立即进入下一工序, 要立即浸泡到纯水中原因。Si片表面最外层即为吸附层, 是氧化层和环境气氛界面, 吸附部分污染杂质。
5、这些沾污能够分为分子、离子、原子或分为有机杂质、金属和粒子。图所表示。5.碱性清洗机理碱性清洗液关键成份是苛性碱、磷酸盐、硅酸盐、碳酸盐、鳌合剂和表面活性剂,苛性碱含有强碱性, 能够中和Si片表面酸性沾污物, 另外强碱皂化作用能够将油脂分解成可溶物质随清洗液冲走。磷酸盐和硅酸盐全部能提供一定清洁效果。碳酸盐含有弱碱性,pH值在9-9.5,碳酸盐关键作用是作为缓冲剂, 使清洗液pH值保持在一定范围内。鳌合剂首先经过化学反应降低溶液中自由金属离子, 其次经过竞争吸附提前吸附在 Si片表面从而降低金属在Si片表面附着。碱性清洗液清洗效果和pH值也有着亲密关系, 伴随清洗液反复使用,pH 肯定下降,
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