基于角谱域和时间反演的任意均匀场的生成方法.pdf
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1、基于角谱域和时间反演的任意均匀场的生成方法*安腾远丁霄(电子科技大学应用物理研究所,成都611731)(2023年 3月 20 日收到;2023年 6月 5 日收到修改稿)现有均匀场往往基于阵列天线的特殊排布,通过平顶波束赋形在角远场区域或者通过点聚焦在近场区域生成的,生成的均匀场直接受制于阵列排布形态且无法灵活调控.提出了一种基于角谱域和改进时间反演方法相结合的均匀场生成方法,该方法不受阵列排布的限制,能够以同一阵列排布形态,在包括近场区域在内的任意位置,生成指定大小、形状以及偏转角度的多种均匀场.首先理论解析了本方法不受阵列排布限制的原因;其次数值验证了固定阵列排布形态灵活生成多种均匀场的
2、能力;最后引入时间反演方法,并做出反演信号幅度倒数加权的改进,解决了上述均匀场在生成过程中由幅度衰减和相位延迟带来均匀场平坦度恶化等问题.研究结果表明,合成场质量与其对应角谱域包络的主瓣和副瓣信息有关,且生成任意均匀场必须包含至少 1/2 的角谱域主瓣信息和 1/2 的副瓣信息.本方法能够灵活调控一维和二维均匀场的位置、大小、形状以及偏转角度,为灵活生成均匀场提供了一条新思路.关键词:角谱域,时间反演,均匀场PACS:02.30.Nw,41.20.Jb,42.68.AyDOI:10.7498/aps.72.202304181引言均匀微波场通常指目标区域内的微波场具有均匀的场强分布,其在空中测试
3、(OTA)1、微波热成像2、微波加热3,4以及射频识别(RFID)5等应用领域发挥着重要作用.先前,研究者们提出了多种均匀微波场的合成方法,如伍德沃德-劳森抽样合成法6、泰勒方法7、艾里奥特合成法8以及矩阵铅笔法911.伍德沃德-劳森抽样合成法相对简单,但通过此方法分析得到的均匀场波束具有较高的副瓣,且目标区域的抖动波纹较大.相比之下,泰勒方法、艾里奥特合成法以及矩阵铅笔法在副瓣和目标区域均有良好的表现,但是生成的均匀场仍然受限于天线阵列的排布,无法灵活地改变目标场的位置以及形状.最近又出现了通过计算机迭代优化的均匀场赋形方法1215,一方面,这些方法既能够抑制旁瓣电平,在一定程度上又能够控制
4、目标场的位置以及形状.但是这些全局优化方法计算量往往随着阵列规模和场形复杂度的增加而增加.另一方面,上述提及的合成均匀场的方法大多是基于天线阵列的角远场区域,通过生成平顶波束从而获得的.但是随着电磁应用环境日益复杂,往往要求固定排布形态的天线阵列具备生成多种均匀场的潜能,如微波加热系统以及肿瘤探测就要求在笛卡儿坐标系下的近场区域内生成任意可调的均匀微波场16,17.因此,亟需一种能够在阵列近场区域内,灵活调节均匀场的场型以及位置的方法.时间反演方法以其灵活快速的波束调控和场赋形能力而备受关注1822.文献 19 中提出了利用时间反演多点聚焦的方法,在指定位置通过多个聚焦斑线性叠加,生成任意规定
5、图案的电场.但是该方法产生的目标场的波纹抖动受到各个聚焦斑的大小和位置的影响,且单纯的时间反演方法严重*国家自然科学基金(批准号:62171093)资助的课题.通信作者.E-mail:2023中国物理学会ChinesePhysicalSocietyhttp:/物理学报ActaPhys.Sin.Vol.72,No.18(2023)180201180201-1依赖多径效应,限制了其应用场景.文献 23 提出了一种基于角谱投影和线性叠加的场整形方法,通过将目标场的空间域变换为角谱域,借助“伞形”、“半圆形”排布的阵列,通过不同入射角的投影线性叠加生成指定的目标场.文献 24 在文献 23 的基础上,
6、首次提出利用空间角谱投影和时间反演方法相结合的方法产生阵列对应圆心位置处的均匀场,但是仍受阵列排布的影响无法实现灵活可调的效果,且文献中时间反演的作用只是为了解决单元耦合、缺失以及阵元出现偏移带来的影响.据此,本文利用角谱域变换并结合时间反演方法,基于固定形态的线阵和均匀栅格平面阵,提出了一种灵活调控均匀场位置、大小、形状以及偏转角度的通用方法.该方法不需要计算机迭代优化,通过合理的空间域与角谱域的傅里叶变换和快速的时间反演,即可确定阵列中每个阵元的幅度和相位,从而得到所需的均匀场.多种数值计算验证论证了该方法的有效性和可靠性.2基于角谱域的任意均匀场合成方法类似于通信领域中的信号,可以通过傅
7、里叶变换在时域和频域相互转变.对于空域中一个已知空间分布的任意场型,也可以通过傅里叶变换转换为角谱域形式,如一个矩形脉冲信号可以转换为不同频率的信号的叠加.因此,按需生成空间分布的任意场型,可转换为求解不同角频率信号的相互叠加.2.1 一维均匀场的合成一维均匀场的数学模型可以用矩形窗函数表示.假设在 x 轴上有宽度为 的均匀场,该均匀场可表示为Eumf(x)=A,|x|/2,0,|x|/2.(1)其中 A 表示该均匀场的幅度.对 Eumf进行傅里叶变换,将其变换为角谱域形式,即eEumf(kx)=2Asin(kx)kx=2Asinc(kx),(2)其中,kx表示 x 方向的空间角频率(空间波数
8、),sinc()是辛格函数.可以看出一维均匀场的角谱域形式是一个与均匀场宽度 t 相关的辛格函数.在自由空间中当|kx|k0时,即 x 方向的空间波数 kx大于自由空间波数 k0,此时的电磁波为倏逝波,其幅度随着距离的变化呈指数衰减无法远距离传播.因此在自由空间中一维均匀场可以看作由角频率为|kx|k0的场组合而成,即Eumf(x)12+k0k0eEumf(kx)ejkxxdkx,(3)式中,k0=2/l 为自由空间波数,其中 l 表示为任意频率电磁波的波长.对于均匀微波场数学上可以看作从k0+k0无数个连续的角频率场的叠加,但是现实中无法实现连续叠加.因此对于由阵列产生的均匀场,可以将其对应
9、的角谱域离散化处理.其中由 N 个阵元组成的天线阵列,第 n 个阵元在均匀场的位置对应的角频率 kxn为kxn=k0cosn,n=1,2,N,(4)其中,qn为第 n 个天线相对于均匀场中心的夹角.因此可以通过抽样函数将(3)式离散化处理,那么对应角频率叠加而产生的合成场为E(x)=12Nn=1eEumf(kx)ejkxx(kx kxn),|kx|k0.(5)其中 d()表示冲激函数.通过(4)式和(5)式可以看出,不同的阵列排布产生不同的采样函数,而不同的采样函数影响最终合成电场的平坦度.此处,采用等空域划分的半圆阵列以及等空域划分的直线阵列,与文献 23,24 中提出的等角谱域划分的半圆阵
10、列进行分析比较,来证明采用等空域划分的直线阵列的可行性.首先设置均匀微波场位于 x 轴中心位置,宽度为 4l.半圆阵列半径为 10l,直线阵列中心位置距离均匀场中心位置 10l,阵元间距 0.5l,其中 l 为任意值.3 个阵列均由 31 个阵元组成,其具体模型如图 1 所示.3 种不同的阵列排布对应 3 种不同的抽样方式,作用于宽度为 4l 的均匀场角谱域,各个角频率对应的幅度如图 2(a)所示.可以看出等角谱域半圆阵列在k0+k0的范围内均匀采样,等空域直线阵列采样点主要集中在主瓣附近,而等空域半圆阵列采样点主瓣附近较少,主要集中在两侧.将采样结果代入(5)式并观察目标场合成效果,其合成结
11、果如图 2(b)所示.物理学报ActaPhys.Sin.Vol.72,No.18(2023)180201180201-2从图 2(b)可以看出,3 个合成场在2l+2l的范围内合成场的幅度保持在3dB 以上,在2.5l 附近出现大小在20dB 左右的第一零点,场型具有较好的滚降,说明 3 种阵列排布均能实现在目标区域生成指定大小的均匀场.因此完全可以采用简单的等空域直线阵列代替复杂且占用大量空间的半圆阵列,去生成均匀微波场.由吉布斯现象可知,当合成矩形脉冲波形时,选取有限项项数越多,合成波形质量越好越接近理想的矩形脉冲.结合上述分析算可以看出当选取项数相同时,角谱域主瓣采样点越多,合成场主瓣波
12、纹越小,越趋于一个固定数值;反之主瓣波纹越大.换言之,均匀场的主要信息集中在其对应的角谱域主瓣内,相同规模的等空域直线阵列可以产生更平稳的均匀微波场.当生成同一目标均匀场时,对于不同规模相同阵元间距的等空域直线阵列,角谱域信息的差别主要体现在副瓣上.因此保持目标均匀场仍在阵列轴线上,目标均匀场位于阵列 10l 处,阵元间距 0.5l不变,改变阵元数量.对应角谱域和合成场如图 3所示.本文选取了 4 种不同阵元数量的阵列,其中当阵元数量为 11 个时,其角谱域只包含对应角谱域包络的主瓣;当阵元数量为 17 个时,其对应角谱域包含对应角谱域包络的主瓣和 1/2 个第一副瓣.通过合成场对比可以发现,
13、当角谱域信息只包含全部主瓣,缺少副瓣信息时,合成场在2l 的位置幅度明显小于3dB,平坦度较差,无法正常生成目标均匀场.当角谱域信息包含主瓣和 1/2 副瓣时,合成场在2l 的位置幅度在3dB 左右,合成场主瓣平坦度较好,并且随着角谱域中副瓣信息的增多,滚降系数增大,但是当角谱域主瓣采样点数量比副瓣采样点数量小于 1/2 时,合成场主瓣波动剧烈,合成场质量恶化.因此通过等空域直线阵列合成均匀场时,不但需要角谱域主瓣信息,还需要足够数量的角谱域副瓣信息,至少要包含 1/2 角谱域副瓣信息.为了进一步探究等空域直线阵列灵活调控均匀场的能力,利用非均匀直线阵列和等空域直线阵列进行对比分析,非均匀直线
14、阵列与等空域直线阵列口径相同,第 17 个单元以及第 2531 个单元间距 0.7l,第 824 个单元间距 0.3l.并且保持相-10010等空域直线阵列单元目标均匀场/-10010等角谱域半圆阵列单元目标均匀场/-10010等空域半圆阵列单元目标均匀场/图1三种不同的阵列排布方式Fig.1.Threedifferentarrayarrangements.000.1-0.1角频率均匀场角谱域包络等空域直线阵采样等空域半圆阵采样等角谱域半圆阵采样幅度归一化角谱域-0.50.51.0(a)-505-223020100-3等空域直线阵列合成场等空域半圆阵列合成场等角谱域半圆阵列合成场(b)合成均匀
15、场归一化幅度/dB图2三种不同阵列排布对应的角谱域采样图和合成场分布图(a)归一化角谱域采样图;(b)归一化电场分布图Fig.2.Angularspectrumdomainsamplingdiagramandsyntheticfielddistributiondiagramofthreedifferentarrayconfigurations:(a)Normalizedangularspectrumdomainsamplingdiagram;(b)normalizedelectricfielddistributiondiagram.物理学报ActaPhys.Sin.Vol.72,No.18(2
16、023)180201180201-3对距离 10l、相对宽度 4l 不变,改变均匀场在 x 轴上的位置,两阵列的排布如图 4(a)和图 4(b)所示.图 5 展示了当目标均匀场中心位置位于 x 轴(0l,0),(+6l,0)以及(8.5l,0)处两阵列的角谱域采样结果以及合成场结果.为了方便突出 3 个合成场场型的区别,在图 5(b)和图 5(d)中将 3 个合成场的中轴线对齐.对比图 5(a)和图 5(b)可看出,随着均匀场位置偏离阵列轴线时,均匀场角谱域对应的辛格函数主瓣采样点减少,合成场场型恶化.尤其是当目标均匀场中心位于(8.5l,0),此时主瓣采样信息严重缺失不足 1/2,已无法正常
17、合成均匀场.虽然当目标均匀场偏离阵列轴线后的场型恶化,但通过分析(5)式可得,理想情况下其合成场仍然呈对称状态.对比图 5(a)和图 5(c)可看出,由于阵列的非均匀排布,当目标均匀场正对的区域阵元较多时,均匀场角谱域包络主瓣会有更多的角频率采样点,反之更少.从图 5(d)可看出,非均匀阵列相较于均匀直线阵列在(0l,0)的角谱域主瓣采样点更多,生成场质量更好;但是在(6l,0)和(8.5l,0)的角谱域主瓣采样点更少,生成场波动更加严重,质量相对更差.因此虽然非均匀阵列在阵元密集对应的区域生成的均匀场质量更好,但是其灵活可调范围大大缩小.根据上述分析可以得出如下结论:1)当期望的均匀场未在阵
18、列轴线上时,只要均匀场对应的角谱域主瓣有足够多的采样点,即可通过该阵列合成指定的均匀场;2)当阵列对应的角谱域信息包含至少 1/2 的角谱域主瓣信息以及 1/2 角谱域第一副瓣信息时才能正常生成均匀场;3)对于非均匀直线阵列,在阵元密集对应的区域合成的均匀场质量更好,在较稀疏的区域合成的均匀场质量相对较差;4)在角谱域主瓣信息不严重丢失的前提下,利用等空域直线阵列可以更加灵活地调控均匀场.2.2 二维均匀场的合成在三维空间中生成二维平面均匀场,对空域进行傅里叶变换转变为角谱域时,需要同时考虑x 和 y 两个方向的角谱分量,因此需要对空域做二2010010201归一化角频率阵元阵元对应角频率(a
19、)-100-311个阵元17个阵元31个阵元35个阵元41个阵元(b)-505-22合成均匀场归一化幅度/dB图3改变阵元数量后的角谱域和合成场(a)阵元间距为 0.5l 的角谱域采样结果;(b)不同阵元数量的阵列在目标位置的合成场Fig.3.Angular spectrum domain and generated field after changing number of array elements:(a)Angular spectrum domainsamplingresultswithaspacingof0.5lbetweenarrayelements;(b)compositefi
20、eldofarrayswithdifferentnumberofarrayele-mentsattargetposition.均匀场中心位置位于(0,0)处均匀场中心位置位于(+6,0)处均匀场中心位置位于(-8.5,0)处-10010-8.56等空域直线阵列单元/(a)非均匀直线阵列单元-10010-8.56/(b)图4两阵列和目标均匀场的空间分布(a)等空域直线阵列(b)非均匀直线阵列Fig.4.Spatialdistributionoftwoarraysandtargetuniformfield:(a)Isospatiallineararray;(b)non-uniformlineara
21、rray.物理学报ActaPhys.Sin.Vol.72,No.18(2023)180201180201-4维傅里叶变换.假设在 xOy 平面上有边长为 t 的正方形均匀场,可以用下式表示:Eumf(x,y)=A,|x|/2,|y|/2,0,|x|/2,|y|/2.(6)对 Eumf(x,y)关于 kx和 ky两个分量同时做傅里叶变换,将二维均匀场的空域形式转变为角谱域的形式,即eEumf(kx,ky)=A2sin(kx)kx2sin(ky)ky=4A2sinc(kx)sinc(ky).(7)k2x+k2y k20与 2.1 节分析相同,考虑到微波在自由空间传播时波数的限制,在自由空间中二维均
22、匀场可以看作由角频率满足 的场组合而成,即Eumf(x,y)12+k0k0k20k2xk20k2xeEumf(kx,ky)ejkxxejkyydkxdky.(8)对于由 N 个阵元组成的阵列天线产生的均匀场,第 n 个阵元在目标区域对应的角频率 kxn和kyn分别为kxn=k0sinncosn,kyn=k0sinnsinn,0 n /2,0 n 2,(9)n其中,qn为阵元指向目标场中心的射线关于 z 轴正半轴的夹角,为该射线在 xOy 平面内的投影关于 x 轴正半轴的夹角.最终由阵列天线离散抽样合成的场可以表示为E(x,y)=12Nn=1eEumf(kx,ky)ejkxxejkyy(kx k
23、xn)(ky kyn),k2x+k2y k0.(10)与二维空间生成一维均匀场相似,生成二维均匀场的阵列不需要拘泥于以满足角频率从k0+k0的均匀或非均匀采样而设计的特殊外形.本文均匀场角谱域包络均匀场中心位于(0,0)均匀场中心位于(+6,0)均匀场中心位于(-8.5,0)(b)-505-22-30-20-100-3合成均匀场归一化幅度/dB/-0.100.1-0.500.51.0(a)角频率幅度归一化角谱域(d)-505-22-30-20-100-3合成均匀场归一化幅度/dB/-0.100.1-0.500.51.0(c)角频率幅度归一化角谱域均匀场中心位于(0,0)均匀场中心位于(+6,0
24、)均匀场中心位于(-8.5,0)图5目标均匀场对应的角谱域采样图和合成场分布图(a)等空域直线阵列归一化角谱域采样图;(b)等空域直线阵列归一化电场分布图;(c)非均匀直线阵列归一化角谱域采样图;(d)非均匀直线阵列归一化电场分布图Fig.5.Angularspectrumdomainsamplingdiagramandcompositefielddistributiondiagramofuniformfield:(a)Normalizedangu-larspectrumdomainsamplingdiagramforisospatiallineararray;(b)normalizedele
25、ctricfielddistributiondiagramforisospatiallin-eararray;(c)normalizedangularspectrumdomainsamplingdiagramfornon-uniformlineararray;(d)normalizedelectricfielddis-tributiondiagramfornon-uniformlineararray.物理学报ActaPhys.Sin.Vol.72,No.18(2023)180201180201-5采用均匀栅格平面阵,对二维均匀场的角谱进行离散采样,通过观察不同位置合成场的场型,分析均匀栅格平面
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