AEC-Q200培训内容.ppt
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1、AEC-Q200简介一、背景一、背景什么是什么是AEC?AEC?AEC 是“Automotive Electronics Council:汽车电子协会”的简称。克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC),是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体,AEC建立了质量控制的标准。同时,由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用,促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿,并推动了汽车零件通用性的实施,为汽车零部件市场的快速成长打下基础。主要的汽车电子成员有:Autoliv
2、,Continental,Delphi,Johnson Controls 和 Visteon。AEC-Q200AEC-Q200认证是什么认证是什么?AEC-Q200:stress test qualification for passive components-被动元件汽车级品质认证;汽车电子的过电压保护存在更为严苛的电路条件,因此一般要求制造商通过ISO/TS16949的质量体系认证,相关的分立器件要求通过AECQ101认证,被动元件要求通过AECQ200认证,是非常严苛的认证规范。一般来说12V的汽车电子系统使用5-6KW28V的TVS(瞬态抑制二极管),24V的汽车电子系统使用36V的
3、TVS即可。AEC-Q200AEC-Q200与与TSTS的区别?的区别?TS16949是管理体系,AEC-Q200是是针对汽车上应用的被动元器件的产品标准。二、条款简要内容二、条款简要内容1.1 1.1 描述描述AECQ AECQ 定义了无源电子器件的低应力测试认证要求和参考测试条件。使用本标准并不是要解除供应商自己内部认证项目的责任性。在本文中,其中的用户被定义为所有按照规格书使用其认证器件的用户,用户有责任去证实确认所有的认证数据与本文件相一致。1.1.11.1.1 应力认证测试的定义应力认证测试的定义:应力认证测试定义为成功地完成本标准中定义的测试。每一种无源电子器件要求的低温度范围(大
4、能力)以及各等级的典型运用案例(指定应用)列于下表:如果成功完成备注中的器件类型达到的低温度等级的资格认证,那么将允许供应商声称他们的零件通过了该等级或更低等级的“AEC认证”。对于低于上述低温度的资格鉴定,将仅允许供应商声称他们的零件通过了较低等级的“AEC认证”。等级温度范围无源器件类型典型的应用案例最低最高最大能力(除非有特别指定和认证)0-50C+150C扁平芯片陶瓷电阻器、X8R陶瓷电容器所有的汽车1-40C+125C网络电容器、电阻器、电感、变压器、热敏电阻,共鸣器、晶体和变阻器,所有其它的陶瓷和钽电容器大部分引擎2-40C+105C铝电解电容器乘客仓高热点3-40C+85C薄膜电
5、容器,铁氧体,R/R-C网络和可调电容器多数乘客仓40C+70C/非汽车类1.1.2 1.1.2 应用应用承认承认:承认被定义为用户同意在他们的应用及任何适用的补充文件和任何适用的用户封装规格中使用某零件,但用户承认的方式已经超出了本文件的范围.2 2 MLCC MLCC认证要求及目的认证要求及目的2.1 AECQ2.1 AECQ 认证规范的目的是保证MLCC满足表1/表2测试项目的要求。表1-认证测试样品数量要求 应力方式NO注释样品数/批批次接受标准Pre-andPost-StressElectricalTest应力测试前后电气测试 1G所有进行认证的产品都应送去测试0HighTemper
6、atureExposure高温存储3DG77NoteB10TemperatureCycling温度循环4DG77NoteB10DestructivePhysicalAnalysis破坏性物理分析 5DG77NoteB10MoistureResistance湿度抵抗 6DG77NoteB10HumidityBias偏高湿度7DG77NoteB10HighTemperatureOperatingLife高温工作寿命8DG77NoteB10ExternalVisual外观 9NG所有提交认证的产品0PhysicalDimensions尺寸10NG3010ResistancetoSolvent溶剂抵抗
7、 12DG510N:非破坏性测试,器件可用于组装到板子上进行其它测试或者可用于生产;D:破坏性测试,器件不可重新用于认证测试或生产;S:只要求用于表面贴装元件;G:允许通用数据表1-认证测试样品数量要求 应力方式NO注释样品数/批批次接受标准MechanicalShock机械冲击 13DG30NoteB10Vibration振动 14DG30NoteB10ResistancetoSolderHeat抗焊接热 15DG3010ThermalShock热冲击 16DG3010ESD静电放电 17D1510Solderability可焊性18D15 每种条件10ElectricalCharacter
8、ization电气特性 19NG30NoteA10Flammability可燃性20DPresentcertificateofcompliance提供合格证明书 BoardFlex板弯曲21DS3010TerminalStrength(SMD)端子强度(表面贴装元件)22DS3010BeamLoad射束负载(断裂强度)23DG3010N:非破坏性测试,器件可用于组装到板子上进行其它测试或者可用于生产;D:破坏性测试,器件不可重新用于认证测试或生产;S:只要求用于表面贴装元件;G:允许通用数据2 2 MLCC MLCC认证要求及目的认证要求及目的2 2 MLCC MLCC认证要求及目的认证要求及
9、目的表2-钽和陶瓷电容器参考方法应力方式No.测试方法附加要求CPQIR对应国标Pre-andPost-StressElectricalTest应力测试前后电气测试1UserSpec.用户规格需在255C进行测试,除了适用的应力测试标准和表2中的附加要求指定之外。指定限制范围内指定限制范围内指定限制范围内电性能HighTemperatureExposure(Storage)高温存储3MIL-STD-202Method108不通电,在大额定温度下放置器件1000小时。试验结束后244小时内进行测试。初始限制初始限制=初始限制高温试验TemperatureCycling温度循环4JESD22Met
10、hodJA-1041000个循环(-55C到+125C);试验结束后244小时内进行测试。每个温度的停留时间不超过30分钟,转换时间不超过1分钟。Change=初始限制温度循环高低温冲击?DestructivePhysicalAnalysis破坏性物理分析5EIA-469只适用于表面贴装陶瓷。不需要进行电气测试。根据AEC-Q200不需要电气测试DPAMoisture Resistance湿度抵抗6MIL-STD-202Method106每循环24h(2590RH2590RH),步骤7a和7b可以不做,试验后242h内测量(适用于薄膜电容)Change=aV:=b%;cVtodV:=e%;dt
11、ofV:=初始限制循环湿热BiasedHumidity偏高湿度7MIL-STD-202Method103在温度85C,湿度85%的条件下放置1000小时。指定条件:额定电压和1.31.5倍电压。试验结束后244小时内进行测试。Change=+/-x%=初始限制加速稳态湿热(潮湿负荷)OperationalLife工作寿命8MIL-STD-202Method108条件D(1000h)稳定状态TA=125,试验结束后244小时内进行测试,在大额定温度和额定电压下放置器件。Change=+/-x%=初始限制耐久性ExternalVisual外观9MIL-STD-883Method2009检查器件结构
12、,标识和工艺质量,不要求电气测试。根据AEC-Q200不需要电气测试外观PhysicalDimension尺寸10JESD22MethodJB-100按适用的器件规格验证物理尺寸。注意:用户和供应商规格,不要求电气测试。根据AEC-Q200不需要电气测试尺寸ResistancetoSolvents溶剂抵抗12MIL-STD-202Method215注意:适用于被标识和/或涂层的器件。增加水洗清洗剂-OKEM清洗剂(6%浓度的Oakite清洗剂(表面活性剂及碱的混合物,包括苛性钠、硅酸盐及磷酸盐)或其它相同的溶剂。初始限制初始限制初始限制溶剂抵抗2 2 MLCC MLCC认证要求及目的认证要求及
13、目的表2-钽和陶瓷电容器参考方法应力方式No.测试方法附加要求CPQIR对应国标MechanicalShock机械冲击13MIL-STD-202Method213XYZ三个方向冲击,半正弦脉冲,持续时间0.5ms,峰值加速度1500g,初始限制初始限制初始限制机械冲击Vibration振动14MIL-STD-202Method204测试频率从10-2000赫兹,5g/s的力20分钟,三个方向每个方向12个循环。初始限制初始限制初始限制振动ResistancetoSolderingHeat抗焊接热15MIL-STD-202Method2102605,时间101s,浸入深度1.27mmChange
14、=+/-x%初始限制初始限制耐焊接热ESD静电放电17AEC-Q200-002OrISO/DIS10605/初始限制初始限制初始限制ESDSolderability可焊性18J-STD-002水蒸*h,(助焊剂:松香+异丙醇)2555 C,深度为0.10mm,停留时间5s+0.5s/-0根据AEC-Q200不需要电气测试可焊性ElectricalCharacterization电气特性19UserSpec.用户规格按批次和样品数量要求进行参数试验,总结列出室温下及低,高工作温度下器件的小值,大值,平均值和标准偏差。至少要测量低温度/室温/高温度下的参数CP,DF,IR。见参数表格中的建议。初始
15、限制Change=xmm在电气不良点记录挠度)弯曲TerminalStrength(SMD)端子强度(表面贴装元件)22AEC-Q200-006施加平行于瓷体的推力(17.7N/1.8Kg),端头不脱落、瓷体无损伤不断裂初始限制初始限制初始限制附着力BeamLoadTest射束负载(断裂强度)23AEC-Q200-003施加垂直于瓷体的压力,瓷体无损伤不断裂0603andgreater:xN;0402andless:yN根据AEC-Q200不需要电气测试瓷体强度注意:预前应力电气测试也作为电气特性。1000小时试验过程中需要在250和500小时进行间隔测量2 2 MLCC MLCC认证要求及目
16、的认证要求及目的2.2 2.2 优先要求:当该标准中的要求与其他文件相冲突时,可采用以下优先顺序:1采购订单;2.用户的个别器件规格;3.本文件标准;4.本标准的参考文件(Military/EIA 军用级/电子工业、Industrial 工业级等);5.供应商的数据规格对于被认为合格认证器件,采购订单和/或个别器件规格不能放弃或者免除本文件的要求。2.3 2.3 满足认证和重新认证要求的通用数据的使用:通用数据(可通过范围“4个角”获得(例如大值/温度极值/被评估的电压等)是供应商可以使用的每个认证系列产品的特殊数据的替代品。供应商需要对给出的器件家族的四个角的构成进行定义(例如:电容器要求的
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